半导体集成电路制造技术

技术编号:3905378 阅读:155 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种半导体集成电路,其接收时钟脉冲、多个数据及用于选择上述各数据的多个选择信号,且当上述时钟脉冲跳变时将由上述选择信号选定的1个数据输出到保持电路,该半导体集成电路包括非选择状态检测电路,该非选择状态检测电路检测全部上述多个选择信号都没有选择上述多个数据的任何一个的状态,当上述非选择状态检测电路检测到全部上述多个选择信号都没有选择上述多个数据的任何一个的状态时,防止上次所选定的数据发生变化来保持上述保持电路的输出数据。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体集成电路,其接收时钟脉冲、多个数据及用于选择上述各数据的多个选择信号,且当上述时钟脉冲跳变时将由上述选择信号选定的1个数据输出到保持电路,其特征在于: 上述半导体集成电路包括非选择状态检测电路,该非选择状态检测电路检测全部上 述多个选择信号都没有选择上述多个数据中的任何一个的状态,其中, 当上述非选择状态检测电路检测到全部上述多个选择信号都没有选择上述多个数据中的任何一个的状态时,防止上次所选定的数据发生变化来保持上述保持电路的输出数据。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:炭田昌哉
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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