抗裂半导体封装及其制造方法和制造设备技术

技术编号:3221884 阅读:153 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种改进的抗裂半导体封装、其制造方法及所用制造设备,用聚亚酰胺类材料依次涂敷装于半导体封装中的芯片、引线框的垫片、连线和焊膏,用作充当缓冲部件的涂敷材料,从而能防止层间分离和破裂。制造半导体封装的方法包括以下步骤:将半导体芯片贴到垫片上,电连接半导体芯片和引线,在半导体芯片和引线的表面上形成涂敷膜,并模制半导体芯片、引线和涂敷膜。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种能防止其中的破裂的半导体封装、其制造方法及所用设备,特别涉及一种能防止其中的破裂的改进半导体封装、其制造方法及所用设备,在芯片键合和/或引线键合后,用由聚亚酰胺类材料制的涂敷液进行涂敷工艺,从而能防止层间分离和破裂。在各种半导体封装中,如图1所示的普通半导体封装包括由粘结剂3固定于引线框的垫片2上的半导体芯片1。用连线5连接半导体芯片1的焊盘与引线框的内引线4a。然后,用模制树脂将上述部件密封包装,并将外引线4b成形。常规芯片上引线(LOC)型封装中,如图2所示,内引线13a直接由双面胶绝缘带12贴在半导体芯片11的上面,并通过连线14与形成于半导体芯片11中部的芯片焊盘(未示出)电连接。模制树脂15封装芯片11、内引线13a和连线14,并按用户的要求将外引线13b成形。然而,上述半导体封装有以下缺点,即由于芯片1与垫片2之间及垫片2和/或芯片1、11与模制树脂6、15之间不同材料的热膨胀系数不匹配,可能发生层间分离和破裂。另外,这种层间分离和破裂会随生产工艺持续时间加长而越来越严重,从而会使器件的可靠性下降。因此,为了克服上述问题,已进行了大量研究工作。在这本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种制造抗裂半导体封装的方法,包括以下步骤: 将半导体芯片贴到引线框的垫片上; 电连接半导体芯片和引线框的内引线; 在半导体芯片和引线的表面上形成涂敷膜;及 将半导体芯片、引线和涂敷膜模制于封装中。

【技术特征摘要】
KR 1996-7-30 31420/961.一种制造抗裂半导体封装的方法,包括以下步骤将半导体芯片贴到引线框的垫片上;电连接半导体芯片和引线框的内引线;在半导体芯片和引线的表面上形成涂敷膜;及将半导体芯片、引线和涂敷膜模制于封装中。2.根据权利要求1的方法,其特征在于,利用喷涂涂敷液的方法形成所述涂敷膜。3.根据权利要求1的方法,其特征在于,利用滴涂涂敷液的方法形成所述涂敷膜。4.根据权利要求1的方法,其特征在于,利用淀积工艺形成所述涂敷膜。5.根据权利要求1的方法,其特征在于,所述涂敷膜是由聚亚酰胺类材料制成的。6.根据权利要求2的方法,其特征在于,所述涂敷液的粘度为5-20泊。7.根据权利要求3的方法,其特征在于,所述涂敷液的粘度为5-20泊。8.根据权利要求2的方法,其特征在于,在喷涂了涂敷液后,再进行固化工艺。9.根据权利要求8的方法,其特征在于,所述固化工艺为热固化工艺。10.根据权利要求9的方法,其特征在于,所述热是由红外线产生的。11.根据权利要求8的方法,其特征在于,固化工艺的温度在100-500℃范围内。12.根据权利要求8的方法,其特征在于,所述固化工艺进行5-180秒。13.根据权利要求1的方法,其特征在于,在贴半导体芯片步骤后,进行形成涂敷膜的工艺。14.一种抗裂半导体封装,包括半导体芯片;将电信号传送到外部...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔信
申请(专利权)人:LG半导体株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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