【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体加工领域,尤其是涉及一种盖板封装结构。
技术介绍
目前,金锡盖板封装技术设计用于晶体和砷化镓器件,管壳内部器件采用胶粘或高温焊料。盖板熔封焊接温度设计330℃时,内部器件不会出现二次熔融状态。而硅芯片采用焊料温度一般选300℃焊料,相近的熔化温度在封盖过程中,芯片焊料层会发生二次熔融,对器件的可靠性造成恶劣影响。
技术实现思路
为了克服上述技术问题,本技术提供了一种盖板封装结构,采用的技术方案如下:一种盖板封装结构,包括盖板和焊环,所述盖板为矩形平板结构,盖板为42#合金,所述焊环沿盖板一侧矩形平板边沿环形分布,所述焊环分层电镀于盖板之上,焊环自盖板向上依次为第一镀镍层、第一镀金层、第二镀镍层和第二镀金层。进一步的,所述第一镀镍层厚度为1.27μm~8.89μm,第一镀金层厚度大于0.635μm,第二镀镍层厚度为1.27μm~8.89μm,第二镀金层厚度大于1.27μm。进一步的,所述第一镀镍层与第二镀镍层厚度之和小于11.43μm。进一步的,所述第一镀金层与第二镀金层厚度之和大于1.27μm。采用上述技术方案,保证焊环充分熔融时,管壳内部芯片不会二次熔融。设计满足封装工艺条件同时,还能保证管壳、盖板镀层结构、厚度,保证工艺实施效果。附图说明图1为一种盖板封装结构的正视图。图2为一种盖板封装结构的电侧视图。具体实施方式如图1-2所示一种盖板封装结构,包括盖板1和焊环2,所述盖板1为矩形平板结构,盖板1为42#合金,所述焊环2沿盖板1一侧矩形平板边沿环形分布,所述焊环2分层电镀于盖板1之上,焊环2自盖板1向上依次为第一镀镍层、第一镀金层、第二镀镍层 ...
【技术保护点】
一种盖板封装结构,其特征是包括盖板和焊环,所述盖板为矩形平板结构,盖板为42#合金,所述焊环沿盖板一侧矩形平板边沿环形分布,所述焊环分层电镀于盖板之上,焊环自盖板向上依次为第一镀镍层、第一镀金层、第二镀镍层和第二镀金层。
【技术特征摘要】
1.一种盖板封装结构,其特征是包括盖板和焊环,所述盖板为矩形平板结构,盖板为42#合金,所述焊环沿盖板一侧矩形平板边沿环形分布,所述焊环分层电镀于盖板之上,焊环自盖板向上依次为第一镀镍层、第一镀金层、第二镀镍层和第二镀金层。2.如权利要求1所述的一种盖板封装结构,其特征是所述第一镀镍层厚度为1.27μm~8.89μm...
【专利技术属性】
技术研发人员:李志福,
申请(专利权)人:朝阳无线电元件有限责任公司,
类型:新型
国别省市:辽宁;21
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