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浜松光子学株式会社专利技术
浜松光子学株式会社共有2224项专利
光差分检测器及检查装置制造方法及图纸
光差分检测器(21A)具备:第一APD(22A)及第二APD(22B);对第一APD(22A)施加第一偏压的第一电压施加部(23A)、及对第二APD(22B)施加第二偏压的第二电压施加部(23B);差分放大器(25),第一APD(22A...
反射型动态超颖表面制造技术
一实施方式所涉及的反射型动态超颖表面具备用于在至少构成一维排列的多个像素的各个中能够进行相位调制的结构。该超颖表面具备具有透明导电层及电介质层的层叠结构体;设置于层叠结构体的一方的面上的第1金属膜、设置于层叠结构体的另一方的面上的第2金...
发光器件制造技术
本实施方式关于一种包含在构成一维排列或二维排列的多个像素分别调制相位的反射型超颖表面的发光器件。该发光器件具备面发光激光元件、导光层、超颖表面。超颖表面具有:透光层,其包含电介质层;一金属膜,其设置于透光层的一面上;及另一金属膜,其设置...
超颖镜单元、半导体故障解析装置及半导体故障解析方法制造方法及图纸
本公开关于一种包含具备可用以实现薄型化的构造的超颖镜的超颖镜单元等。该超颖镜单元具备超颖镜及超颖镜用保持部。超颖镜具备基部及第1天线部分。第1天线部分由具有第1折射率的多条第1天线、及具有第2折射率且位于多条第1天线之间的第1中间部构成...
超颖表面构造体及超颖表面构造体的制造方法技术
本发明涉及具备用以实现期望的光学特性的构造的超颖表面构造体等。该超颖表面构造体具备:基材,其具有相互相对的第一面及第二面;及多条天线,其作为多个微细构造而沿第一面排列。基材具有基部及相邻部。多条天线各自具有第一折射率、及构成第一面的一部...
背面入射型半导体光检测装置制造方法及图纸
背面入射型半导体光检测装置(1)包括具有被二维排列的多个像素(U)的光检测基板(10)和具有对来自对应的像素(U)的输出信号进行处理的多个信号处理部的电路基板。光检测基板(10)在每个像素(U)中包括分别具有设置在半导体基板(50)的第...
光学装置制造方法及图纸
光学装置具备:支撑部;具有光学面的第一可动部;包围第一可动部的框状的第二可动部;互相连结第一可动部与第二可动部的第一连结部;互相连结第二可动部与支撑部的第二连结部;以及具有软化特性,当第一可动部在第一轴线周围摇动时应力进行作用的软化构件...
背面入射型半导体光检测元件制造技术
半导体基板(11)具有彼此相对的第一主面(11a)和第二主面(11b)。半导体基板(11)将多个第二半导体区域(15)设置于第二主面(11b)侧。多个第二半导体区域(15)分别包括:具有纹理表面(TS)的第一区域(17);和配置有凸块电...
背面入射型半导体光检测元件的制造方法技术
准备具有彼此相对的第一主面(11a)和第二主面(11b)的半导体基板(11)。半导体基板(11)具有第一导电型的第一半导体区域(13)。半导体基板(11)在第二主面(11b)侧具有形成与第一半导体区域(13)构成pn结的第二导电型的多个...
背面入射型半导体光检测元件制造技术
半导体基板(11)具有彼此相对的第一主面(11a)和第二主面(11b)。半导体基板(11)在第二主面(11b)侧具备多个第二半导体区域(15)。多个第二半导体区域(15)分别包括:具有纹理表面(TS)的第一区域(17);和配置有凸块电极...
背面入射型半导体光检测元件制造技术
半导体基板(11)具有彼此相对的第一主面(11a)和第二主面(11b)。半导体基板(11)具有:第一导电类型的第一半导体区域(13);和与第一半导体区域(13)构成pn结的第二导电类型的多个第二半导体区域(15)。半导体基板(11)在第...
受光元件以及受光元件的制造方法技术
本发明提供一种受光元件,其具备:具有包含受光部和遮光部的第一面的半导体部;以及设置于所述遮光部上的用于遮光的金属膜,所述金属膜具有面向与所述第一面相反一侧且接受光的入射的第二面,在所述第二面形成有多个凹部,所述凹部的内表面包含以沿所述第...
离子检测器制造技术
本实施方式所涉及的离子检测器具备用于降低对输出信号的信号反射等的影响的构造。该离子检测器具备电子倍增部、信号输出部、信号输出端子和AC耦合器。AC耦合器配置于信号输出部与信号输出端子之间的信号线上,并且具有树脂薄片和以经由该树脂薄片而互...
X射线发生装置和X射线利用系统制造方法及图纸
X射线发生装置包括:X射线管;具有电动机的对X射线管供给热媒的热媒供给部;控制电动机的转速的电动机控制部;和能够安装X射线管和热媒供给部的装置壳体。电动机控制部使电动机的转速与包含X射线管和壳体的结构物所具有的共振频率错开。根据该结构,...
试样观察装置制造方法及图纸
试样观察装置(1)包括:对试样(S)照射面状光(L2)的照射光学系统(3);以通过面状光(L2)的照射面(R)的方式在一个方向上扫描试样(S)的扫描部(4);具有相对于照射面(R)倾斜的观察轴(P2)且使通过面状光(L2)的照射而在试样...
X射线发生装置制造方法及图纸
X射线发生装置包括X射线管、X射线管收纳部和通过将用于向X射线管供给电压的内部电路板密封于绝缘内而构成的电源部。在由绝缘块的上表面和X射线管收纳部的内表面界定的空间中封入有绝缘油。在上表面配置有与靶材支承部连接的高压馈电部。在上表面设置...
X射线发生装置制造方法及图纸
X射线发生装置包括:产生X射线的X射线管;X射线管收纳部,其收纳X射线管的至少一部分,并且封入有绝缘性液体;包围部,其从X射线管的管轴方向看时,包围X射线管收纳部;气流产生部,其使气体在由X射线管收纳部与包围部之间界定出的包围空间内流通...
X射线发生装置制造方法及图纸
X射线发生装置包括X射线管、X射线管收纳部和将用于向X射线管供给电压的内部电路板密封于绝缘块内而构成的电源部。由绝缘块的上表面和X射线管收纳部的内表面界定出第1空间。由形成于绝缘块的侧面的具有朝向外部的开口的凹部和将凹部的开口密封的密封...
测距单元及光照射装置制造方法及图纸
本发明的测距单元,具备:将激光即测距光输出的测距光源、使测距光及由对象物的被测量面反射的测距光的反射光透过的对物透镜、使反射光透过并将由对物透镜所产生的测距光或是反射光的聚光位置中的像在成像位置成像的成像透镜、调整反射光的光路的光路调整...
试样观察装置和试样观察方法制造方法及图纸
试样观察装置(1)包括:用于在XZ面上对试样S照射平面光L2的照射光学系统(3);以通过平面光L2的照射面R的方式在Y轴方向上扫描试样S的扫描部(4);具有相对于照射面R倾斜的观察轴P2、使在试样S上产生的观察光L3成像的成像光学系统(...
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