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浜松光子学株式会社专利技术
浜松光子学株式会社共有2224项专利
试样观察装置和试样观察方法制造方法及图纸
本发明的试样观察装置(1)中,在设照射光学系统(3)的光轴P1与扫描面K的法线P3所成的角度为θ1、成像光学系统(5)的光轴P2与扫描面K的法线P3所成的角度为θ2时,θ1、θ2均为80°以下,且θ1+θ2为100°以上,在图像获取部(...
光检测装置及光检测方法制造方法及图纸
光检测装置(1)检测光的入射位置。光检测装置(1)具备多个像素(11)、第1电路(23)、第2电路(33)、第1读取部(21、22)、及第2读取部(31、32)。多个像素(11)以行列状二维排列,且分别具有第1光感应部(15)及第2光感...
图像取得系统和图像取得方法技术方案
图像取得系统具备:放射线源,其向对象物输出放射线;旋转平台,其以在旋转轴线周围使对象物旋转的方式构成;放射线相机,其具有输入透过了对象物的放射线的输入面和能够进行TDI控制的图像传感器;以及图像处理装置,其基于图像数据生成对象物的摄像面...
光检测装置及光检测方法制造方法及图纸
光检测装置(1)是检测光的入射位置的光检测装置(1)。光检测装置(1)具备多个像素、多条第1配线、多条第2配线、第1读取部(21)、及第2读取部(31)。多个像素以行列状二维排列,且分别包含第1光感应部及第2光感应部。多条第1配线将多个...
空间光调制器、光调制装置、以及空间光调制器的驱动方法制造方法及图纸
SLM(4A)具备调制部(40A)和驱动电路(41)。调制部(40A)具有多个像素(40a),并且根据周期性地时间变化的驱动信号的振幅对每个像素(40a)调制入射光的相位或强度。驱动电路(41)将驱动信号提供给调制部(40A)。驱动电路...
离子检测器制造技术
本发明提供一种具有能够应对用于捕获离子的MCP的有效面积的扩大的电子透镜构造的离子检测器。该离子检测器具备:由MCP和第一聚焦电极构成的MCP单元;具有电子检测面的信号输出装置;以及配置于MCP单元和信号输出装置之间的复位单元。复位单元...
光片显微镜以及试样观察方法技术
光片显微镜包括照射光学系统、检测光学系统和光检测器。照射光学系统具有:作为激发光输出波长随时间变化的光的波长扫描光源;分光元件,其入射从波长扫描光源输出的激发光,并且以与激发光的波长对应的出射角出射激发光;包含柱面透镜的中继光学系统,其...
电子管的制造方法技术
准备由绝缘性材料形成的第一部件、和排列设置有随着向前端去而变窄并可拆装地保持着导电性部件的凸部的夹具,将第一部件和夹具的至少任一者加热到第一部件可熔融变形的温度。在使第一部件与多个凸部相对的状态下,以将多个凸部嵌入第一部件的方式使夹具与...
有机光电转换装置以及有机光电转换装置的制造方法制造方法及图纸
本发明的有机光电转换装置具备将光转换成电能的第一和第二有机光电转换元件。第一和第二有机光电转换元件以沿光的入射方向以该顺序层叠的方式配置。第一有机光电转换元件具有:第一元件主体,其包含第一基板、第一和第二透明电极、以及在光的第一波长带具...
浓度测定方法及浓度测定装置制造方法及图纸
本发明是一种测量杂质浓度的浓度测定方法,其具备如下步骤:朝向作为测定对象物的DUT(10),照射测量光及以包含既定频率的调制信号进行强度调制所得的刺激光;检测来自DUT(10)的反射光或透过光的强度并输出检测信号;及检测相对于调制信号的...
载流子寿命测定方法及载流子寿命测定装置制造方法及图纸
本发明为测量测定对象物中的载流子寿命的载流子寿命测定方法,其具备:照射步骤,其朝向作为测定对象物的DUT(10),照射测量光、及以多个频率进行强度调制所得的刺激光;输出步骤,其检测来自DUT(10)的反射光或透过光的强度并输出检测信号;...
试样支承体制造技术
本发明的试样支承体是用于将试样离子化的试样支承体,其包括:基片,其具有以将彼此相对的第一表面和第二表面连通的方式形成的不规则的多孔结构;和至少设置于第一表面的导电层。
电子管制造技术
电子管包括:具有被气密密封的内部空间的壳体;电极,用于在内部空间内进行利用电子释放的能量的产生或者检测。壳体包括:主体部,其形成有构成内部空间的凹部且由绝缘性材料构成;和以封闭凹部的开口的方式固定于主体部的盖部。凹部随着朝向开口侧而扩展...
试样支撑体、电离法以及质量分析方法技术
试样支撑体(1)是用于电离试样的试样支撑体。试样支撑体具备:具有彼此相对的第一表面(2a)和第二表面(2b)的基板(2)、和至少设置于第一表面的导电层(4)。在基板中的用于使试样的成分电离的实效区域(R),形成有在第一表面和第二表面开口...
试样支撑体、电离法以及质量分析方法技术
试样支撑体(1)是用于电离试样的试样支撑体。试样支撑体具备:具有彼此相对的第一表面(2a)和第二表面(2b)的基板(2)、设置于第一表面的第一导电层(41)、和设置于第二表面的第二导电层(42)。在基板中的用于使试样的成分电离的规定区域...
试样支撑体、电离法以及质量分析方法技术
试样支撑体(1)是用于电离试样的试样支撑体。试样支撑体具备:具有彼此相对的第一表面(2a)和第二表面(2b)的基板(2)、和至少设置于第一表面的导电层(4)。在基板中的用于使试样的成分电离的实效区域(R),形成有在第一表面和第二表面开口...
试样支承体及试样支承体的制造方法技术
本发明的试样支承体是用于将试样离子化的试样支承体,其包括:基片,其形成有在彼此相对的第一表面和第二表面具有开口的多个第一贯通孔;和导电层,其至少设置于第一表面上的第一贯通孔的周缘部,在设置于相邻的第一贯通孔彼此之间的间隔壁部形成有将相邻...
试样支承体、试样的离子化方法及质谱分析方法技术
一种试样支承体,其用于将试样离子化,其中,具备:第一层,其上形成有多个第一贯通孔;导电层,其以不堵塞第一贯通孔的方式设置于第一层的表面;第二层,其设置于第一层的与导电层相反侧,且其上形成有多个第二贯通孔,多个第一贯通孔及多个第二贯通孔沿...
加工装置制造方法及图纸
本发明的加工装置在加工对象物中形成构成改质区域的改质点。本发明的加工装置具备:第一照射部,其向加工对象物照射第一光,在加工对象物的一部分区域使吸收率比第一光的照射之前暂时地上升;及第二照射部,在一部分区域的吸收率暂时地上升的吸收率上升期...
激光加工方法以及激光加工装置制造方法及图纸
本发明提供能够在加工对象物的表面上不发生熔融或者偏离切割预定线的分割而切割加工对象物的激光加工方法以及激光加工装置,其中,在引起多光子吸收的条件下而且在加工对象物(1)的内部对准聚光点(P),在加工对象物(1)的表面(3)的切割预定线(...
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王荣贵
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