试样观察装置和试样观察方法制造方法及图纸

本发明专利技术的试样观察装置(1)中，在设照射光学系统(3)的光轴P1与扫描面K的法线P3所成的角度为θ1、成像光学系统(5)的光轴P2与扫描面K的法线P3所成的角度为θ2时，θ1、θ2均为80°以下，且θ1+θ2为100°以上，在图像获取部(6)中，相对于第n个像素的第m帧的图像获取区域F

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样观察装置和试样观察方法
本专利技术涉及一种试样观察装置和试样观察方法。
技术介绍
SPIM(选择性平面照明显微镜)是已知的用于观察细胞等具有三维立体结构的试样的内部的技术之一。例如，专利文献1中记载的断层图像观察装置公开了SPIM的基本原理。在该装置中，用平面光照射试样，使在试样内部产生的荧光或散射光在成像面上成像，以获取试样内部的观察图像数据。作为另一种使用平面光的试样观察装置，例如，可以列举专利文献2中记载的SPIM显微镜。在该常规SPIM显微镜中，对试样的配置面以一定的倾斜角照射面状光，由具有与面状光的照射面正交的观察轴的观察光学系统对来自试样的观察光摄像。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开昭62-180241号公报专利文献2：日本特开2014-202967号公报
技术实现思路
但是，如上述专利文献2那样，在使照射光学系统和观察光学系统分别相对于试样的配置面倾斜、并维持照射光学系统和观察光学系统相互正交的结构下，在构建观察图像数据时，存在难以将所获得的图像数据转本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种试样观察装置，其特征在于，包括：/n对试样照射平面光的照射光学系统；/n以通过所述平面光的照射面的方式在扫描面内的一个方向上扫描所述试样的扫描部；/n使通过所述平面光的照射而在所述试样上产生的观察光成像的成像光学系统；/n具有二维排列的多个像素、用于获取多个与由所述成像光学系统成像的所述观察光的光学图像对应的图像数据的图像获取部；和/n基于由所述图像获取部获取的多个所述图像数据，生成所述试样的观察图像数据的图像生成部，/n在令所述照射光学系统的光轴与所述扫描面的法线所成的角度为θ1、所述成像光学系统的光轴与所述扫描面的法线所成的角度为θ2时，θ1、θ2均为80°以下，且θ1、θ2之和为...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180409 JP 2018-0748681.一种试样观察装置，其特征在于，包括：
对试样照射平面光的照射光学系统；
以通过所述平面光的照射面的方式在扫描面内的一个方向上扫描所述试样的扫描部；
使通过所述平面光的照射而在所述试样上产生的观察光成像的成像光学系统；
具有二维排列的多个像素、用于获取多个与由所述成像光学系统成像的所述观察光的光学图像对应的图像数据的图像获取部；和
基于由所述图像获取部获取的多个所述图像数据，生成所述试样的观察图像数据的图像生成部，
在令所述照射光学系统的光轴与所述扫描面的法线所成的角度为θ1、所述成像光学系统的光轴与所述扫描面的法线所成的角度为θ2时，θ1、θ2均为80°以下，且θ1、θ2之和为100°以上，
在所述图像获取部中，相对于第n个像素的图像获取区域，第n+1个像素的图像获取区域在所述试样的扫描方向上根据在一帧的曝光时间内所述试样的扫描量而偏移。


2.根据权利要求1所述的试样观察装置，其特征在于，
θ1、θ2均为70°以下，并且θ1、θ2之和为110°以上。


3.根据权利要求1或2所述的试样观察装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：山本谕，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP