【技术实现步骤摘要】
超小间距的高频集成电路交流自动测试探头
本专利技术涉及一种超小间距的高频集成电路交流自动测试探头。
技术介绍
目前,随着集成电路的外形越来越小型化,其管腿之间的间距已经小到0.5mm左右;这样加上管腿宽度,在成品自动测试时,要求对位的机械精度正负小于0.01mm。高频集成电路进行交流测试时,具有引线阻抗、分布电容影响和射频脉冲干扰等问题。当前,这种交流测试用探头几乎完全依赖进口,其结构复杂,价格昂贵,采购周期长。因此,我们通过近几年的探索和试验,成功研发出了性能优于进口的这种交流自动测试探头。
技术实现思路
本专利技术目的是针对现有技术存在的缺陷提供一种超小间距的高频集成电路交流自动测试探头。本专利技术为实现上述目的,采用如下技术方案:一种超小间距的高频集成电路交流自动测试探头,包括多个以阵列、非对称方式均布在上层的主动式弹性取样上片和多个对应的设置在下层的主动式弹性取样下片;所述主动式弹性取样上、下片上分别设置有用于定位所述主动式弹性取样上、下片的绝缘件;所述主动式弹性取样上、下片的前部一体式封装在设有的塑封体内;所述主动式弹性取样上片上侧的塑封体内设置有上层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样下片下侧的塑封体内设置有下层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样上片和所述主动式弹性取样下片之间的塑封体内设置有中层金属屏蔽片;各层之间的金属屏蔽片呈对偶设置。进一步的,所述主动式弹性取样上、下片的前部取样端设置有与分选机测试卡上的固定插座相对应的插头。进一步的,所述主动式弹性取样上、下片的前部取样端通过光蚀刻工艺制成片状探针排,所述片状探针排中相邻的探针间距为0.005mm。进 ...
【技术保护点】
一种超小间距的高频集成电路交流自动测试探头,其特征在于,包括多个以阵列、非对称方式均布在上层的主动式弹性取样上片和多个对应的设置在下层的主动式弹性取样下片;所述主动式弹性取样上、下片上分别设置有用于定位所述主动式弹性取样上、下片的绝缘件;所述主动式弹性取样上、下片的前部一体式封装在设有的塑封体内;所述主动式弹性取样上片上侧的塑封体内设置有上层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样下片下侧的塑封体内设置有下层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样上片和所述主动式弹性取样下片之间的塑封体内设置有中层金属屏蔽片;各层之间的金属屏蔽片呈对偶设置。
【技术特征摘要】
1.一种超小间距的高频集成电路交流自动测试探头,其特征在于,包括多个以阵列、非对称方式均匀分布在上层的主动式弹性取样上片和多个对应的设置在下层的主动式弹性取样下片;所述主动式弹性取样上、下片上分别设置有用于定位所述主动式弹性取样上、下片的绝缘件;所述主动式弹性取样上、下片的前部一体式封装在设有的塑封体内;所述主动式弹性取样上片上侧的塑封体内设置有上层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样下片下侧的塑封体内设置有下层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样上片和所述主动式弹性取样下片之间的塑封体内设置有中层金属屏蔽片;各层之间的金属屏蔽片呈对偶设置。2.如权利要求1所述的一种超小间距的高频集成电路交流自动测试探头,其特征在于,所述主动式弹性...
【专利技术属性】
技术研发人员:殷友桃,
申请(专利权)人:无锡市汇博普纳电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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