多列式接点薄膜探针制造技术

技术编号:9506530 阅读:142 留言:0更新日期:2013-12-26 18:02
本实用新型专利技术提供一种多列式接点薄膜探针,其包含有一测试压块,该测试压块上装设有一软性电路板及一探针单元,其中,该探针单元具有多个导线,多个导线间隔设于该软性电路板,且每一导线上各设有两个金属接点,金属接点排列成两列,借此,当其中一列金属接点损坏时,使用者还可利用另一列金属接点对电子装置进行测试,如此可有效改善现有薄膜探针于其中一金属接点损毁便需整块更换的缺点,从而达到节省成本与环保的目的。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种多列式接点薄膜探针,其特征在于,包含有:一测试压块,其具有一本体,且该本体的前端设有一压头,该压头上采用一体灌注方式形成有一橡胶压条,该本体上还设有至少一锁孔;?一软性电路板,其装设于该测试压块上,且该软性电路板上设有至少一固定孔,而该固定孔与该锁孔对应设置;一探针单元,其具有多条间隔设置于该软性电路板上的导线,且每一条导线上各设有至少两个金属接点,所有金属接点排列成至少两列。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡荣峯胡琼
申请(专利权)人:智诚实业股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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