多列式凸块薄膜探针制造技术

一种多列式凸块薄膜探针，其包含有一软性电路板以及一探针单元，其中，该探针单元具有多条间隔设置于该软性电路板的导线，且每一条导线上各设有至少二金属凸块，该等金属凸块排列成至少二列，借此，当其中一列的金属凸块发生损坏时，使用者还可利用另外一列的金属凸块对该电子装置进行测试，如此不仅能够大幅提升该多列式凸块薄膜探针的使用寿命，且可有效改善现有薄膜探针于其中一金属凸块损毁便需整块更换的缺点，从而能够达到节省成本与环保的功效。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种多列式凸块薄膜探针。
技术介绍
为了便于使用者测试TFT面板、LED面板或太阳能薄膜等电子装置的电路是否正常，坊间有业者乃开发出一种薄膜探针，该薄膜探针主要具有一软性电路板，且该软性电路板上平行设置有多条导线，该等导线上各设有一金属凸块，借此，只要将该薄膜探针进一步装置于一测试压块上，再通过该测试压块将该薄膜探针压抵于一待测的电子装置上，让该等金属凸块分别接触于该电子装置的每一条电路，便能够测试出该电路板是否正常。然而，由于该现有薄膜探针的每一导线上仅设有一金属凸块，因此当其中一导线上的金属凸块毁损故障时，该薄膜探针将无法对该电子装置进行测试，必须整块丢弃换新， 不仅非常浪费与不环保，且会增加使用者的成本，是故，该现有薄膜探针实有进一步改良的必要。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术的提供一种能够有效改善现有薄膜探针于其中一金属凸块损毁便需整块更换的缺点，以达到节省成本与环保功效的多列式凸块薄膜探针。本技术所提供的多列式凸块薄膜探针，其包含有一软性电路板，且该软性电路板上设有至少一固定孔；以及一探针单元，其具有多条设置于该软性电路板的导线，且每一条导线上各设有至少二金属凸块，该等金属凸块排列成至少二列。作为优选方案，其中，该等导线平行设置于该软性电路板上。作为优选方案，其中，该等金属凸块平行排列于该等导线上。作为优选方案，其中，该等金属凸块交错排列于该等导线上。作为优选方案，其中，该固定孔为长条状。作为优选方案，其中，该软性电路板上更进一步设有至少一定位孔。作为优选方案，其中，该定位孔为长条状。作为优选方案，其中，该软性电路板上更进一步设有至少一标记部。作为优选方案，其中，该标记部为一标线。本技术的多列式凸块薄膜探针，由于每一导线上皆设有至少二个金属凸块， 且该等金属凸块排列成至少二列，因此当其中一列的金属凸块发生损坏时，使用者还可利用另外一列的金属凸块对该电子装置进行测试，借此，不仅能够大幅提升该多列式凸块薄膜探针的使用寿命，且可有效改善现有薄膜探针于其中一金属凸块损毁便需整块更换的缺点，而使该多列式凸块薄膜探针能够达到节省成本与环保的功效。附图说明图1是本技术较佳实施例的立体图。图2是本技术较佳实施例的剖视图。图3是本技术较佳实施例的使用示意图。图4是本技术较佳实施例的使用示意图。图5是本技术较佳实施例的使用示意图。图6是本技术较佳实施例的使用示意图。图7是本技术另一较佳实施例的立体图。图8是本技术另一较佳实施例的使用示意图。图9是本技术又一较佳实施例的立体图。图10是本技术又一较佳实施例的使用示意图。附图标记说明100多列式凸块薄膜探针；10软性电路板；11固定孔；12定位孔；13标记部；20探针单元；21导线；22金属凸块；200电子装置；201电路；300测试压块；301本体；302螺栓；303压头；304橡胶压条；305定位销；306锁孔；307螺栓；400一体式测试压块；401本体；402压头；403橡胶压条;404定位销；405锁孔；406螺栓。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好的理解本技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本技术的限定。请同时参阅图1以及图2所示，为本技术较佳实施例的立体图以及剖视图，其揭露有一种多列式凸块薄膜探针100，该多列式凸块薄膜探针100包含有一软性电路板10，其上设有至少一固定孔11以及至少一定位孔12，于本实施例中，该软性电路板10的顶面邻近两侧处互相对应各设有一个固定孔11以及一个定位孔12， 且该固定孔U与该定位孔12形成长条状。一探针单元20，其具有多条间隔设置于该软性电路板10的导线21，且每一条导线 21上各设有至少二金属凸块22，该等金属凸块22排列成至少二列，于本实施例中，该等导线21平行设置于该软性电路板10上，且每一导线21上皆设有二个金属凸块22，该等金属凸块22平行排列于该等导线21上。请再同时参阅图3、图4以及图5所示，当使用者欲使用该多列式凸块薄膜探针 100对一电子装置200，如TFT面板、LED面板或太阳能薄膜等，进行测试时，首先，使用者必须将该多列式凸块薄膜探针100装设于一测试压块300上，其中，该测试压块300具有一本体301，且该本体301的前端通过多个螺栓302锁设有一压头303，该压头303上进一步采一体灌注形成有一橡胶压条304，另，该本体301上更设有一对定位销305，又，该本体304 上更设有一对锁孔306，借此，使用者只要先将该多列式凸块薄膜探针100设置于该测试压块300上，并让该定位孔12套设于对应的该定位销305，此时因为该定位孔12形成长条状， 所以使用者可借由该定位销305的限位，沿着该定位孔12的长轴方向调整该多列式凸块薄膜探针100于该本体304上的位置，使位于最前一列的金属凸块22对准该橡胶压条304，之后再通过一螺栓307穿过该固定孔11并锁固于对应的锁孔306，便可将该多列式凸块薄膜探针100装设于该测试压块300上。当使用者将该多列式凸块薄膜探针100装设于该测试压块300后，便可开始对该电子装置200进行测试，使用者只要将该测试压块300直接压抵于该电子装置200上，让该等金属凸块22接触于该电子装置200的每一条电路201，便可对该等电路201进行通电，以测试该电子装置200是否可以正常使用，值得一提的是，因为该测试压块300上设有该橡胶压条304，所以可提供缓冲空间以缓冲该等金属凸块22压抵于该电路201上的力道，以防止过大的压抵力量导致该等金属凸块22损毁，从而能够达到提升该等金属凸块22寿命的效请再同时参阅图6所示，当最前一列的金属凸块22在长期使用后发生损毁时，此时因为每一导线21上皆设有至少二个金属凸块22，且该等金属凸块22排列成至少二列，所以使用者还可利用另外一列的金属凸块22对该电子装置200进行测试，于本实施例中，使用者只要将该多列式凸块薄膜探针100由该测试压块300上取下，再对该多列式凸块薄膜探针100进行裁切，将损坏的金属凸块22整列切除，之后再将该多列式凸块薄膜探针100 重新装回该测试压块300上，并调整位置使裁切后位于最前一列的金属凸块22对准该橡胶压条304，便可继续使用该多列式凸块薄膜探针100对该电子装置200进行测试，借此，不仅能够大幅提升该多列式凸块薄膜探针100的使用寿命，且可有效改善现有薄膜探针于其中一金属凸块损毁便需整块更换的缺点，而使该多列式凸块薄膜探针100能够达到节省成本与环保的功效。值得一提的是，使用者亦可直接调整该多列式凸块薄膜探针100位于该测试压块 300上的位置，使另外一列金属凸块22对准该橡胶压条304，以供对该电子装置200进行测试，而不用对该多列式凸块薄膜探针100进行裁切动作。请再同时参阅图7、8所示，为本技术的另一较佳实施例的使用示意分解图， 该多列式凸块薄膜探针100与前述较佳实施例不同之处在于，该探针单元20的金属凸块22 交错排列于该等导线21上，且该软性电路板10上仅设有一对固定孔11，该固定孔11形成圆形，而该测试压块300上则设有对本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种多列式凸块薄膜探针，其包含有：一软性电路板，其上设有至少一固定孔；一探针单元，其具有多条间隔设置于该软性电路板的导线，且每一条导线上各设有至少二金属凸块，该等金属凸块排列成至少二列。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡荣峯，胡琼，
申请(专利权)人：智诚实业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71