一种测试探针制造技术

技术编号:9448730 阅读:92 留言:0更新日期:2013-12-12 23:53
本实用新型专利技术公开一种测试探针,其主要适用于测试装置对印刷电路板进行电性测试中,该印刷电路板上设置有若干金手指,其中,所述测试探针设置于该测试装置上,该测试探针主要包括对应穿出该测试装置的本体以及设置于该本体一末端且其内为中空的探针针头,所述探针各对应于该印刷电路板上的金手指设置且该探针内为中空的探针针头对应插接于金手指上。本实用新型专利技术不仅简单方便,加工难度降低,且在测试过程中上电稳定。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试探针,其适用于测试装置对印刷电路板进行电性测试中,该印刷电路板上设置有若干金手指,其特征在于,所述测试探针设置于该测试装置上,该测试探针主要包括对应穿出该测试装置的本体以及设置于该本体一末端且其内为中空的探针针头,所述探针各对应于该印刷电路板上的金手指设置且该探针内为中空的探针针头对应插接于金手指上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:聂林红
申请(专利权)人:深圳市策维科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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