【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种基于调制掺杂的GaN肖特基二极管,其特征在于包括用于支撑整个GaN肖特基二极管的半绝缘的衬底层(101)、在所述衬底层(101)上生长的高掺杂的N+型GaN层(102),以及在所述N+型GaN层(102)上采用调制掺杂生长的N?型GaN层(103),N?型GaN层(103)的掺杂浓度从N+型GaN层(102)的界面处开始为非均匀分布;在所述的N+型GaN层(102)上生长欧姆接触电极(104);在所述的N?型GaN层(103)上生长有肖特基接触电极(105)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:梁士雄,冯志红,房玉龙,邢东,王俊龙,张立森,杨大宝,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第十三研究所,
类型:实用新型
国别省市:
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