斜沟槽肖特基势垒整流器件制造技术

技术编号:9371122 阅读:181 留言:0更新日期:2013-11-22 00:01
本实用新型专利技术公开了一种可提高反向击穿电压的斜沟槽肖特基势垒整流器件,包括:半导体基板,半导体基板的上部为第一导电类型漂移区,其表面为第一主面,半导体基板下部为第一导电类型衬底,其表面为第二主面;第一主面上设置有至少一个斜沟槽,斜沟槽延伸进入到第一导电类型漂移区,斜沟槽周围设置有第二导电类型杂质注入区,斜沟槽的表面覆盖有绝缘栅氧化层,斜沟槽内填充有导电多晶硅,第一主面上淀积第一金属层,第二主面上淀积第二金属层。本实用新型专利技术还公开了一种上述肖特基势垒整流器件的制造方法。本实用新型专利技术可以在较小的反偏电压下即可形成耗尽层的夹断,从而大大提高了所述整流器件的反向击穿电压。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种斜沟槽肖特基势垒整流器件,包括:半导体基板,半导体基板下部为重掺杂的第一导电类型衬底,上部为轻掺杂的第一导电类型漂移区,半导体基板的上表面为第一主面,半导体基板的下表面为第二主面;其特征在于:所述的第一主面上设置有至少一个斜沟槽,斜沟槽延伸进入到第一导电类型漂移区,斜沟槽周围设置有第二导电类型杂质注入区,斜沟槽的表面覆盖有绝缘栅氧化层,斜沟槽内填充有导电多晶硅,第一主面上淀积第一金属层作为第一电极,第一电极与斜沟槽内的导电多晶硅欧姆接触,并且与第一导电类型漂移区、第二导电类型杂质注入区肖特基接触,第二主面上淀积第二金属层作为第二电极,第二电极与第二主面欧姆接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:殷允超丁磊
申请(专利权)人:张家港凯思半导体有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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