一种高频高压整流器件反向恢复时间测试装置，属于电子器件测试领域，其结构包括显示部（1）、时间间隔控制部（2）、时间电压转换控制部（3）、单片机程序控制部（4）、逆变控制部（5）、高压包（6），其特征在于：以高压包提供测试条件，用一块双运放集成电路U1分离出反向恢复时间间隔，间隔时间经单片机控制后，由双运放集成电路U2经恒流充电积分获得电压信号，该信号由压频转换送单片机计算并显示。其优点是：性能稳定、操作简单、便于维护，可以大大提高操作人员的工作效率。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种高频高压整流器件反向恢复时间测试装置，属于电子器件测试领域，其结构包括显示部（1）、时间间隔控制部（2）、时间电压转换控制部（3）、单片机程序控制部（4）、逆变控制部（5）、高压包（6），其特征在于：以高压包提供测试条件，用一块双运放集成电路U1分离出反向恢复时间间隔，间隔时间经单片机控制后，由双运放集成电路U2经恒流充电积分获得电压信号，该信号由压频转换送单片机计算并显示。其优点是：性能稳定、操作简单、便于维护，可以大大提高操作人员的工作效率。【专利说明】一种高频高压整流器件反向恢复时间测试装置
本专利技术属于电子元件测试领域。
技术介绍
在现代电控
对高频高压整流的使用越来越多，如X射线检测设备，这些设备的高频高压整流多数是用多个高频高压整流二极管串接而成；在使用中发现，在多个串接的闻频闻压整流~二极管中，反向恢复时间快的闻频闻压整流~二极管容易损坏，这样就必须对所购买的高频高压整流二极管进行分类筛选，而筛选时的测试条件要符合产品的使用条件。
技术实现思路
本专利技术目的是:按产品使用条件来决定测试条件，将测试结果显示出来供分类筛选，以保证产品质量。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:其结构包括显示部(I)、时间间隔控制部(2)、时间电压转换控制部(3)、单片机程序控制部(4)、逆变控制部(5)、高压包(6)，其特征在于:以高压包提供测试条件，用一块双运放集成电路Ul分离出反向恢复时间间隔，间隔时间经单片机控制后，由双运放集成电路U2经恒流充电积分获得电压信号，该信号由压频转换送单片机计算并显示。本装置由两块PCB板组成，逆变控制部(图5，图6)构成一块PCB板，时间间隔控制部(图2)、时间电压转换部(图3)和单片机程序控制部(图4)构成一块电路板，各部间的连接关系见图1。逆变控制部(5)将单片机程序控制部(4)传递的时序脉冲变为高频驱动脉冲，推动高压包将24V驱动脉冲变为3500V高压脉冲后传递到时间间隔控制部(2 )，时间间隔控制部(2)将被测器件工作条件的状态传递到单片机程序控制部(4);当单片机程序控制部(4)检测到被测器件满足测试条件后，立即发信号给时间间隔控制部(2)，时间间隔控制部(2)将间隔时间传到时间电压转换控制部(3);时间电压转换控制部(3)按间隔时间给电容器恒流充电，恒流充电电容器经电压保持器送压频转换器AD654 ;单片机程序控制部(4)按程序读取AD654脉冲，经内部运算后传递到LED数码管，LED数码管显示数值。本专利技术的有益效果是:性能稳定、操作简单、便于维护，可以大大提高操作人员的工作效率。【专利附图】【附图说明】图1为结构方框图。图2为时间间隔控制部图。图3为时间电压转换控制部图。图4为单片机程序控制部图。图5为逆变控制部I图。图6为逆变控制部2图。图7为原理总图。【具体实施方式】参照附图，其结构包括显示部、时间间隔控制部、时间电压转换控制部、单片机程序控制部、逆变控制部、高压包，其特征在于:以高压包提供测试条件，用一块双运放集成电路Ul分离出反向恢复时间间隔，间隔时间经单片机控制后，由双运放集成电路U2经恒流充电积分获得电压信号，该信号由压频转换送单片机计算并显示。本装置由两块PCB板构成整个系统:图2、图3、图4构成一块PCB板完成时间间隔采集(图2)、电压保持及压频转换(图3 )和单片机控制部分(图4)，±12V供电从Pl输入，图5，图6构成逆变驱动板，24V供电从P6输入。图2中的高压包T和被测高频高压整流二极管Dl均为外接器件，不在电路板上；当接通电源，两块PCB板同时通电，单片机ATmegaS经P3输出显示信号，四位数码管全显示8且PD3(A)为高；当接好图2中的被测二极管D1，按下图4中的起动按钮K1，单片机启动，经GOf G04隔离从P5输出逆变时序脉冲，使图5和图6构成的逆变驱动板工作，从P8输入时序脉冲信号，经P7输出驱动脉冲至NB1、NB2推动高压包T ;高压包T输出的交流脉冲高压经D1~D4整流，由R5和R6分压送单片机PC4做A/D转换测试。当满足测试条件时，ATmega8输出脉冲使D2正极为高，单片机ATmega8的TO3 口(A)即再输出为低，经20uS延迟关断逆变脉冲；在^)3 口(A)为高，D7的B点为高，Q22关断，Ql, Q2为高阻，当A点为低且20uS过后脉冲消失，经Rl和R2的分压使D7的B点为低时开通Q22，使Ql和Q2为低阻且导通，恒流源经R14和Ql给C7充电，同时经U2A第一脚送Q2给C8充电；在20uS延时的时间过后，由于Dl反向恢复时间特性的影响，R3和R4分压使D9的C点为低的时间和B点必不相同且必定滞后，于是产生了时间间隔；一旦C点为低，Q21即导通并关断Q22，Ql和Q2呈高阻，C7的充电电压值保存在C8中，经U2B第7脚送到U3 (AD654)进行压频转换，转换频率送ATmegaS的Tl计数和计算，再传递到数码管显示，此时一个测试周期即完成。按下一次启动按钮K1，启动一次测试；闭合K2为US级测试，显示值为9999uS，关断K2为nS级测试，显示值为9999nS。其优点是:性能稳定、操作简单、便于维护，可以大大提高操作人员的工作效率。【权利要求】1.一种高频高压整流器件反向恢复时间测试装置，其结构包括显示部(I)、时间间隔控制部(2)、时间电压转换控制部(3)、单片机程序控制部(4)、逆变控制部(5)、高压包(6)，其特征在于:以高压包提供测试条件，用一块双运放集成电路Ul分离出反向恢复时间间隔，间隔时间经单片机控制后，由双运放集成电路U2经恒流充电积分获得电压信号，该信号由压频转换送单片机计算并显示。2.如权利要求1所述的一种高频高压整流器件反向恢复时间测试装置，其特征在于:单片机不但完成控制显示，而且完成高压发生器的时序脉冲。3.如权利要求1所述的一种高频高压整流器件反向恢复时间测试装置，其特征在于:用一个单触点开关切换显示时间的纳秒级或微秒级。【文档编号】G01R31/26GK103675635SQ201210343876【公开日】2014年3月26日 申请日期:2012年9月18日 优先权日:2012年9月18日 【专利技术者】李劲生, 许发仁, 陈冬 申请人:南京普爱射线影像设备有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种高频高压整流器件反向恢复时间测试装置，其结构包括显示部（1）、时间间隔控制部（2）、时间电压转换控制部（3）、单片机程序控制部（4）、逆变控制部（5）、高压包（6），其特征在于：以高压包提供测试条件，用一块双运放集成电路U1分离出反向恢复时间间隔，间隔时间经单片机控制后，由双运放集成电路U2经恒流充电积分获得电压信号，该信号由压频转换送单片机计算并显示。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李劲生，许发仁，陈冬，
申请(专利权)人：南京普爱射线影像设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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