用于控制工业工艺的的多芯片模块和方法技术

本申请案涉及用于控制工业工艺的多芯片模块和方法。一种多芯片模块包含第一裸片，所述第一裸片具有用以产生信号以控制工业工艺的控制处理器和输入/输出接口。所述多芯片模块还包含第二裸片，所述第二裸片具有监督处理器和输入/输出接口。所述控制处理器和所述监督处理器中的一者的处理器故障由所述控制处理器和所述监督处理器中的另一者检测，且检测所述故障的所述处理器经配置以经由其输入/输出接口断言信号以致使所述工业工艺响应于所述故障转变到安全状态。另外，所述第一和第二裸片使用不同工艺技术产生。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种多芯片模块(图1，100)，其包括：第一裸片(104)，其包括：控制处理器(104)，其产生信号以控制工业工艺(108)；以及输入/输出接口；第二裸片(102)，其包括：监督处理器(102)；以及输入/输出接口；且其中所述控制处理器和所述监督处理器中的一者的处理器故障由所述控制处理器和所述监督处理器中的另一者检测，且检测所述故障的所述处理器经配置以经由其输入/输出接口断言信号以致使工业工艺响应于所述故障转变到安全状态；且其中所述第一和第二裸片使用不同工艺技术(102、104)产生。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：萨姆·格南阿·萨芭帕蒂，亚历山大·泰萨格洛，
申请(专利权)人：德州仪器公司，
类型：发明
国别省市：