The utility model provides a screening structure of IGBT chip switch based on the characteristic measurement, including the upper end cover, the end cover and the emitter electrode; upper cover and a lower cover are concave on both sides of the wall cover, upper end cover and a lower end cover through the outer frame spring is connected to form a rectangular frame; the emitter electrode set in the rectangular frame, comprising a disc-shaped metal electrode, and the center of the circular metal electrode relative axial symmetric distribution of many bosses, the boss is placed on the IGBT module; disc-shaped metal electrode arranged on the lower end cover, the top and side are respectively provided with a gate plate and a PCB auxiliary gate / emitter terminal. Compared with the prior art, the utility model provides a IGBT chip switch based on the characteristic measurement of screen structure, can be in the main circuit parameters under the same conditions, switching waveform IGBT chip measuring a plurality of parallel, and comprehensive evaluation of the dynamic and static parameters of the chip are consistent.
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电力电子
,具体涉及一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构。
技术介绍
绝缘栅双极晶体管(InsulatedGateBipolarTransistor—IGBT)结合了MOSFET和BJT两者的优点,具有开关速度快、电压型驱动、通态压降低、电流容量大等特点,被广泛应用于工业、交通、电力、军事、航空以及电子信息等领域。目前已有的大功率IGBT器件都需要通过多个芯片并联来实现器件的大电流等级。以压接型IGBT为例,压接型IGBT结合了GTO和IGBT两者的优点,将多个芯片通过压接的形式直接并联,具有双面散热、高可靠性以及短路失效等特点,非常适合于电力系统、船舶等串联应用领域,但是对与器件内部多芯片并联时,芯片参数的一致性要求非常高。通常情况下,一个器件内部的芯片尽量选择同一片晶圆上的芯片、或者同一生产批次、同一生产日期的芯片,从而可以使得所选取各个芯片的参数尽量一致。或者通过对芯片进行测试,选取各项静态参数指标、动态参数指标一致的芯片进行封装。但是这个过程非常繁琐,各项静态指标的测试项繁多,动态参数测试过程也相对麻烦。此外,由于IGBT芯片在开关过程中同时受到多种因素的影响,因此,仅仅依赖测量得到的参数,并不能够完全说明芯片在封装后,开关电流一定是一致的。
技术实现思路
为了满足现有技术的需要,本技术提供了一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构。本技术的技术方案是:所述IGBT芯片筛选结构包括上端盖(1)、下端盖(4)和发射极金属电极(5);所述上端盖(1)和下端盖(4)均为凹形盖,所述上端盖(1)和下端盖(4)的两侧壁通过外框架弹簧(3)连 ...
【技术保护点】
一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,其特征在于,所述IGBT芯片筛选结构包括上端盖(1)、下端盖(4)和发射极金属电极(5);所述上端盖(1)和下端盖(4)均为凹形盖,所述上端盖(1)和下端盖(4)的两侧壁通过外框架弹簧(3)连接形成一个长方体框架;所述上端盖(1)和下端盖(4)的侧壁均设置有定位孔,二者通过定位销(2)固定;所述发射极金属电极(5)设置在所述长方体框架内,其包括圆盘形金属电极(51),及相对该圆盘形金属电极(51)的中心轴对称分布的多个凸台(52),所述凸台(52)上放置IGBT模块;所述圆盘形金属电极(51)布置在所述下端盖(4)上,其上面和侧面分别设置有一个栅极PCB板(55)和一个辅助栅极/发射极端子(54),该辅助栅极/发射极端子(54)用于连接IGBT芯片驱动板的负极。
【技术特征摘要】
1.一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,其特征在于,所述IGBT芯片筛选结构包括上端盖(1)、下端盖(4)和发射极金属电极(5);所述上端盖(1)和下端盖(4)均为凹形盖,所述上端盖(1)和下端盖(4)的两侧壁通过外框架弹簧(3)连接形成一个长方体框架;所述上端盖(1)和下端盖(4)的侧壁均设置有定位孔,二者通过定位销(2)固定;所述发射极金属电极(5)设置在所述长方体框架内,其包括圆盘形金属电极(51),及相对该圆盘形金属电极(51)的中心轴对称分布的多个凸台(52),所述凸台(52)上放置IGBT模块;所述圆盘形金属电极(51)布置在所述下端盖(4)上,其上面和侧面分别设置有一个栅极PCB板(55)和一个辅助栅极/发射极端子(54),该辅助栅极/发射极端子(54)用于连接IGBT芯片驱动板的负极。2.如权利要求1所述的一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,其特征在于,所述上端盖(1)的上表面为光滑导电铜块(11),两侧壁为绝缘陶瓷(12);所述下端盖(4)的下表面为光滑导电铜块(41),两侧壁为绝缘陶瓷(42)。3.如权利要求1所述的一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,其特征在于,所述IGBT模块包括栅极弹簧顶针(53)、塑料框架(56)、IGBT芯片(57)、钼片(58)和陶瓷端盖(5...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐新灵,莫申杨,崔翔,赵志斌,张朋,李金元,温家良,
申请(专利权)人:华北电力大学,全球能源互联网研究院,国家电网公司,
类型:新型
国别省市:北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。