The invention discloses a MEMS infrared light source and its producing method, MEMS infrared light source includes a substrate, a supporting layer, a first thermistor layer, a dielectric layer, second thermistor layer, a protective layer, a heating resistance layer and the radiation layer, the invention makes use of a thermistor thermistor layer of the first layer and the second layer thermistor as temperature sensor, temperature measurement by radiation zone MEMS infrared light source resistance variation of the thermal resistor layer directly on the outside; the other layer as the temperature compensation performance, error cancellation loop in a certain temperature range in the periphery of the temperature drift of the MEMS infrared light source provided by the invention can real-time temperature compensation in the real-time monitoring of temperature drift at the same time, so as to improve the MEMS infrared light source measuring linearity, avoid the influence of external environment. The manufacturing method is convenient to be compatible with the internal chip technology of the infrared light source, thereby reducing the technical difficulty.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及红外光源
,尤其涉及一种MEMS(MicroElectroMechanicalSystems,微机电系统)红外光源及其制作方法。
技术介绍
红外技术在国防、信息技术与通讯、污染监测、温度调控、医学等领域得到广泛应用。作为红外技术应用的重要部件,红外光源的研究得到越来越多的关注。红外光源的一个重要应用是红外气体传感器。目前,MEMS红外光源广泛应用于NDIR(non-dispersiveinfra-red,非色散红外)系统中,通过加热电阻产生焦耳热对黑体辐射层进行加热,使黑体辐射层发射出热辐射红外光,红外光经过待测气体时被吸收发生衰减,通过对比衰减前后的光强计算出待测气体的浓度。由于黑体辐射产生的红外光谱取决于辐射温度,因此红外光源的温度变化对NDIR系统中传感器的测量结果有显著影响。目前NDIR系统普遍在远离光源的探测器端放置温度传感器,当光源温度发生变化时,探测器端的温度传感器将始终存在一个滞后效应,导致温度传感器测量结果的基线发生漂移,影响测量的稳定性和精度。目前的红外光源器件往往仅有加热发光功能,如果温度传感器仅是安装在红外光源器件的附近,所测量的温度变化会存在反应滞后、非线性等问题,因此,要实现对红外光源发光状态的实时监控,需要在红外光源最核心的芯片上集成温度传感器。但现有技术中的红外光源将温度传感器集成在红外光源的芯片上时,存在线性度较差,并且受外界环境影响较大的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供一种MEMS红外光源及其制作方法,以解决现有技术中红外光源将温度传感器集成在红外光源的芯片上时,存在线性度较差,并且受外界 ...
【技术保护点】
一种MEMS红外光源,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底表面的支撑层;位于所述支撑层背离所述衬底表面的中心区域,沿背离所述衬底的方向依次层叠设置的第一热敏电阻层、介质层和第二热敏电阻层,所述介质层用于电隔离所述第一热敏电阻层和第二热敏电阻层;位于所述第二热敏电阻层背离所述支撑层表面的隔离保护层;位于所述隔离保护层背离所述第二热敏电阻层表面的加热电阻层;位于所述加热电阻层背离所述隔离保护层表面的辐射层;其中,所述第一热敏电阻层和所述第二热敏电阻层中的其中一层为温度传感器,另一层为温度补偿传感器。
【技术特征摘要】
1.一种MEMS红外光源,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底表面的支撑层;位于所述支撑层背离所述衬底表面的中心区域,沿背离所述衬底的方向依次层叠设置的第一热敏电阻层、介质层和第二热敏电阻层,所述介质层用于电隔离所述第一热敏电阻层和第二热敏电阻层;位于所述第二热敏电阻层背离所述支撑层表面的隔离保护层;位于所述隔离保护层背离所述第二热敏电阻层表面的加热电阻层;位于所述加热电阻层背离所述隔离保护层表面的辐射层;其中,所述第一热敏电阻层和所述第二热敏电阻层中的其中一层为温度传感器,另一层为温度补偿传感器。2.根据权利要求1所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述支撑层上还包括贯穿所述支撑层的四个隔离槽,四个所述隔离槽在所述支撑层上组成矩形,所述隔离槽将所述支撑层分割为中心区域和边缘区域,所述边缘区域和所述中心区域在所述矩形的顶角处连接。3.根据权利要求2所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述衬底还包括空腔结构,所述空腔结构贯穿所述衬底,且与所述支撑层上边缘区域所围的区域对应,使得所述支撑层上的中心区域上的所述第一热敏电阻层、所述介质层、所述第二热敏电阻层、所述隔离保护层、所述加热电阻层和所述辐射层悬空。4.根据权利要求3所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述支撑层的边缘区域背离所述衬底的表面还设置有两个第一热敏电阻层接线点、两个第二热敏电阻层接线点和两个加热电阻层接线点,所述两个第一热敏电阻层接线点与所述第一热敏电阻层电性连接,所述两个第二热敏电阻层接线点与所述第二热敏电阻层电性连接,所述两个加热电阻层接线点与所述加热电阻层电性连接。5.根据权利要求4所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述第一热敏电阻层、所述第二热敏电阻层和所述加热电阻层在所述支撑层上的投影均为蛇形。6.根据权利要求1所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述第一热敏电阻层和所述第二热敏电阻层的材质相同。7.根据权利要求6所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述第一热敏电阻层和所述第二热敏电阻层的材质包括铂或氧化锰。8.根据权利要求1所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述加热电阻层为单层金属薄膜,所述金属薄膜的材质为铜、铂、铝、钛、金或钨。9.根据权利要求1所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述加热电阻层为金属复合结构。10.根据权利要求1所述的MEMS红外光源,其特征在于,所述支撑层为氧化硅层、氮化硅层、或氮化硅和氧化硅组...
【专利技术属性】
技术研发人员:明安杰,刘卫兵,孙西龙,王玮冰,陈大鹏,
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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