应用于电子产品封装设计的电、热以及力学集成设计环境制造技术

技术编号:8883312 阅读:178 留言:0更新日期:2013-07-04 02:07
本发明专利技术公开了一种新型的包含考虑电子产品封装的电、热及力学特性的协同环境。与传统的电子产品设计,封装方法和流程相比,极大地降低了设计的复杂度,减小了产品设计周期,提高了一次性设计成功率。其特征在于在集总的设计平台上提供了对电子产品封装的电、热、力学特性的全面、准确以及可重构的设计参数和性能、功能预测。通过协同考虑封装、热及力学特性对产品性能的作用,在产品的设计阶段,可以根据设计成本、实现的复杂度等方面考虑从产品核心设计优化、封装优化、热优化、及力学设计优化来优化产品性能。这样一方面保证产品性能的低成本的实现,另外提供了多个设计的自由度,降低了实现性能的复杂度,最重要的是在产品设计阶段能准确评估产品性能的预期,减少了设计迭代。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于电子电路的封装设计、电子电路设计自动化、以及电子电路计算机辅助设计领域。
技术介绍
随着电子技术和集成电路技术的不断进步,数字系统的时钟速率越来越高,信号边缘速率越来越快,从电气性能角度看,高速信号间的互联不再是畅通和透明的,高速PCB的导线互联和板层特性对系统的影响已不能被简单忽略。封装互连中有金线,基板的金属线,过孔和转角,桩线,焊球等,在低频信号中,往往将它们视为简单的传输线。系统工作频率很高时,将器件互连的导线不应再看做一根简单的对信号透明的导线,而是一个有时延和瞬间阻抗分布寄生元件,它会产生延时,引起信号波形失真、干扰等。装寄生效应对高频器件性能的影响越来越明显,为了在高频器件设计中充分考虑寄生参数的影响,需对封装的寄生效应进行模拟,以便保持高频电路封装后信号完整性及电源完整性。具体做法是提取出三维封装结构的RLC参数和高频下的S参数,分析管壳在封装前后、不同频率、不同封装环境下寄生参数的变化情况,将仿真结果与实验结果进行对比,为设计人员设计产品提供依据。如何处理由高速信号连线引起的反射、串扰、开关噪声等信号完整性问题,确保信号传输的质量,是一个设计能否本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种应用于电子产品封装设计电、热以及力学的设计环境;其特征在于在集总的设计平台上提供了对电子产品封装的电、热、力学特性的全面、准确以及可重构的设计参数和性能、功能预测;通过对封装设计的电、热及力学建模提取相应的电学模型,与产品的核心设计模块进行混合模式的仿真,验证封装设计及核心模块的综合性能是否满足产品要求,并将验证结果分别反馈到电学、热学及力学模型参数设计上,进一步对封装的物理设计提出优化要求;通过协同考虑电、热及力学特性对产品性能的作用,在产品的设计阶段,可以根据设计成本、实现的复杂度等方面考虑从产品核心设计优化、封装优化、热优化、及力学设计优化来优化产品性能;这样一方面保证产品性能的低成...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘少龙程玉华
申请(专利权)人:上海北京大学微电子研究院
类型:发明
国别省市:

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