According to the current test and inspection requirements of CDM mode in ESD electrostatic protection, the invention proposes a detection structure and test method which can be used for manual operation, so as to accurately grasp the ESD current waveform based on CDM mode and provide data support for ESD electrostatic protection ability test of CDM mode. The system structure includes: the testing machine for support, the DUT (device under test) on the base of the machine, the machine bracket, and the testing module for fixing the system. The detection module includes pogo probe, test board and other structures. The testing machine is made of aluminum alloy, which has the function of fastening the knob to adjust the lifting manually. Meanwhile, it has a fixing device, which can fix the test board of the equipment. The test board is a double-layer fr \u2011 4 board. Pogo probe is a special RF probe, which can meet the signal test at 18GHz and below. The characteristic impedance of coaxial cable is 50 \u03a9. The calibration module (i.e. calibration capacitance) used is fr \u2011 4 material, and the electrostatic capacity is 4pf.
【技术实现步骤摘要】
一种可手动操作的CDM静电放电检测结构与测试方法
本专利技术涉及集成电路领域,尤其涉及CDM模式静电放电电流波形的检测系统及测试方法。
技术介绍
由于工艺水平的不断提高,互补金属氧化物半导体(CMOS,ComplementaryMetal-Oxide-Semiconductor)器件的尺寸一直处于缩小的趋势,目前已经达到深亚微米甚至更小。这种发展趋势在提升了器件性能和工作速度的同时,也带来了一个致命的弱点,即输入阻抗很大,很容易被静电放电(ESD,Electro-StaticDischarge)击穿。在实际使用过程中,处处都存在着电容效应。我们知道,静电电荷可以存储在几乎所有的物体中,这使得静电放电现象出现于各个地方。目前,对于集成电路而言,ESD防护测试根据器件带电途径不同一般可分为HBM(HumanBodyModel)、MM(Machine)、CDM(ChargedDeviceModel)等几种,根据其带电途径的不同,相关的测试设备和测试方法也会有一定程度的差别。在这三种模式中,HBM模式和MM模式,由于被提出的时间较早,因此很多人已经熟知,并且电子工程师们也已经有针对性地采取了各种各样的静电保护结构或者措施来提升此二类器件的稳定性和静电防护水平。然而,随着工艺水平以及器件功能复杂度的提升,CDM失效模式已经逐渐成为一个突出的问题,原因在于:第一,随着芯片工艺的进步,工作速度加快了,但芯片也变得脆弱了。集成度的提高使得器件尺寸越来越小,器件之间的连线宽度越来越窄,钝化层越来越薄,这些因素都会时芯片对静电放电的敏感性也越大。一个不太高的电压就能将晶体管击 ...
【技术保护点】
1.基于CDM模式的ESD电流波形检测系统,其特征在于,包括:可以调节升降的测试机台,可以调节松紧的用于固定悬挂装置的支架,可以通过螺丝与测试板;所述测试板含有容纳螺丝通过的通孔;测试板侧面含有插头,便于连接同轴电缆,接地层底部焊接有pogo( 弹簧单高跷)探针,用于接触带电器件,获取所需波形;测试机台底座上水平放置校准模块。
【技术特征摘要】
1.基于CDM模式的ESD电流波形检测系统,其特征在于,包括:可以调节升降的测试机台,可以调节松紧的用于固定悬挂装置的支架,可以通过螺丝与测试板;所述测试板含有容纳螺丝通过的通孔;测试板侧面含有插头,便于连接同轴电缆,接地层底部焊接有pogo(弹簧单高跷)探针,用于接触带电器件,获取所需波形;测试机台底座上水平放置校准模块。2.如权利要求1所述的结构,其特征在于,所述固定悬挂装置的支架,用于固定的部分为环形,内径略大于用于连接测试板的圆柱法兰盘直径。3.如权利要求1所述的结构,其特征在于,所述测试板,含有两个可以通过螺丝的通孔,用于将测试板与法兰盘结合在一起,固定在测试机台上,所述通孔距离测试板中心距离相等,所述测试板在与法兰盘相连的对侧焊接有pogo探针。4.如权利要求1所述的结构,其特征在于,测试板所焊接的pogo探针,其所能工作的频率范围为DC~18GHz。5.如权利要求1所述的结构,其特征在于,测试板所焊接的pogo探针,通过1Ω电阻与测试板焊接相连,所用1Ω电阻为环形辐射电阻。6.如权利要求1所述的结构,其特征在于,...
【专利技术属性】
技术研发人员:陆宇,蒋乐乐,程玉华,
申请(专利权)人:上海北京大学微电子研究院,
类型:发明
国别省市:上海,31
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