测试和测量管理制造技术

一种测试和测量管理设备，包括用来接收来自请求模块的请求的请求队列以及一个或多个处理器，所述请求包括被测设备的标识和所请求的测量。所述一个或多个处理器被配置成从所述请求队列接收所述请求，基于所述被测设备的标识来生成用来命令光开关选择与所述被测设备相关联的端口的命令，从所述请求确定所请求的测量，并且基于所请求的测量和所述被测设备的标识来生成用来将测试和测量仪器配置成执行所请求的测量的指令。

Test and measurement management

【技术实现步骤摘要】
测试和测量管理优先权本公开要求2018年3月13日提交的题为“MULTI-LANESERIALIZEDSIGNALACQUISITION”的美国临时申请号62/642,008的权益，所述美国临时申请被通过引用整体地结合于本文中。
本公开针对与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及具有用来将多个被测设备连接到测试和测量仪器的光开关（opticalswitch）以及用来控制测试和测量系统通过所述开关从每个被测设备取回测量结果的测试和测量设备的测试和测量管理系统。
技术介绍
存在许多环境，诸如制造环境，其可能需要测量来自多个被测设备的信号以确定被测设备如何在环境内执行。传统上，这可以通过使用取样示波器并将每个被测设备连接到取样示波器的不同通道来完成。这也可以通过将每个被测设备连接到不同的取样示波器来完成。图1是传统测试和测量系统的框图，其中在制造环境中表征光信号。取样示波器100具有四个通道102。每个通道102连接到相应的被测设备（DUT）104。取样示波器100可以连接到测试处理器106，测试处理器106与图示的四个DUT104中的至少一个相关联。取样示波器100的每个通道102包括高成本的光电（O/E）转换器108。将具有O/E转换器108的通道添加到取样示波器可能是代价高的。由于取样示波器还必须能够访问同步到被测量的数据的时钟。可以使用时钟恢复模块来确定时钟，或者可以由用户提供子速率时钟。然而，如果每个DUT的数据速率不同，则由于必须被同步到数据的不同时钟，可能有必要使用多个取样示波器，而不是一个取样示波器的多个通道，这可能是代价高的。本公开的实施例解决了现有技术的这些和其他缺陷。附图说明参考附图从对实施例的以下描述，本公开的实施例的各方面、特征和优点将变得显而易见，在所述附图中：图1图示了用于测量来自多个被测设备的光信号的常规测试和测量系统的框图。图2图示了根据本公开的一些实施例的用于测量来自多个被测设备的光信号的测试和测量系统的框图。图3是图示图2的测试和测量系统的操作的流程图。图4是具有校准设备的测试和测量系统的框图。图5是图示图4的测试和测量系统的操作的流程图。具体实施方式本文中公开了一种测试和测量系统，其具有测试和测量管理模块，用来控制测试和测量系统的各种组件。测试和测量管理模块可以从请求设备接收对测量的请求。测试和测量管理设备可以包括请求队列，用来接收该请求并将该请求存储在请求队列中。测试和测量管理设备可以包括一个或多个处理器，用来接收该请求，并且基于该请求来生成并向测试和测量仪器发送用来将它本身配置成基于该请求从被测设备采取测量的指令。此外，测试和测量管理设备可以生成并向光开关发送用来选择与在请求中标识的被测设备相关联的端口的指令。这样的系统允许待测试的若干设备经由光开关连接到测试和测量仪器的单个输入通道，而不是必须将每个被测设备连接到测试和测量仪器的单独通道或连接到各个测试和测量仪器。图2图示了根据本文中的一些实施例的测试和测量系统200的框图。图2的测试和测量系统200包括实时测试和测量仪器202，诸如实时示波器。如本领域技术人员将理解的，实时测试和测量仪器202可以包括图2中未图示的多种组件，但是为了清楚而省略了这些组件。例如，除了许多其他潜在的组件之外，测试和测量仪器202还可以包括用户界面、用来处理数据的一个或多个处理器、用来控制测试和测量仪器202的各种组件的一个或多个控制器、以及一个或多个存储器，如本领域技术人员将理解的。实时测试和测量仪器202还可以包括一个或多个输入通道204。探头206可以连接到通道204中的一个。探头206可以连接到衰减器208，所述衰减器208可以进一步连接到功率计210。在一些实施例中，衰减器208可以用放大器替换，或者探头206也可以耦合到放大器（未示出）。连接到探头的通道204可以包含O/E转换器（未示出）。衰减器208可以连接到光开关212。光开关212可以具有N个连接或端口，用来连接到多达N个DUT214，所述N个DUT214可以被包括在各种测试站216中。每个测试站216可以具有相关联的测试处理器218。尽管测试处理器218和DUT214被示出位于测试站216中，但是所述设备不必须在物理上位于彼此近旁，而是DUT214和测试处理器218每个分别与彼此相关联，从而形成测试站216。此外，虽然图2描绘了光开关212中存在N个开关连接，并且潜在地存在N个测试站216，每个具有相关联的DUT214和测试处理器218，但是将领会，测试处理器218的数目不需要必定与DUT214的数目相关。而是，一个测试处理器218可以与多个测试站216和多个DUT214相关联。图2的测试和测量系统200允许测试和测量仪器202上的单个通道204用于利用单个O/E转换器从多个被连接的DUT214捕获波形。这在制造环境中可能尤其有益；然而，将领会，这样的配置也可以用在任何数目的其他环境中。作为示例，如上面提及的，制造客户当前使用多个等效时间示波器在制造线上进行测量。依照本公开的配置可以通过利用单个实时示波器进行相同的测量来节省制造商的金钱。另外，由于光开关的性能，图2的配置可以以非常小的损耗在光开关212的端口之间进行切换。即使在高速下情况下也是这样。本文中公开的配置还可以使得能实现新的功能性，例如，使用实时测试和测量仪器202提供不需要时钟架构的优点。如上面提及的，取样示波器总是需要能够访问同步到被测量的数据的时钟。通过使用实时测试和测量仪器202，不需要时钟，并且可以在同一实时测试和测量仪器202上获取具有不同数据速率的多个信号。然后可以通过测试和测量仪器202中的处理器或与DUT214相关联的测试处理器218来恢复信号的时钟，作为数据的后处理的一部分。另外，将领会，在一些配置中，测试和测量仪器202可以用可以产生要传输到测试处理器218的所捕获波形的数字化版本的模数转换器（ADC）设备替换。测试和测量系统200还可以包括管理模块220和/或一个或多个请求模块222。如图2中所示，管理模块220可以被结合到测试和测量仪器202中，而请求模块222可以被结合到每个测试处理器218中。然而，如本领域技术人员将理解的，管理设备220和/或请求设备222可以替代地被集成到可以充当测试和测量仪器202和光开关212之间的协调器的单独的计算设备（诸如一个或多个控制器）中。在其他实例中，请求设备222可以替代地被包括在测试和测量仪器202中，或者可以被包括作为测试站216的单独组件，而管理设备220被包括在测试和测量仪器202或控制器中。也就是说，可以在测试和测量系统200中提供多个请求设备222，每个请求设备222与相应的测试处理器218相关联或被结合在相应的测试处理器218中。请求设备222可以被配置成诸如从用户界面或任何其他源接收指示从所选DUT214捕获波形的期望的请求。该请求可以包括和所选DUT214或与DUT214耦合的通道204相关联的标识符。例如，该请求可以包括DUT214的唯一标识符，其可以诸如通过表或其他数据源与光开关212上的端口相关。例如，测试和测量系统200的用户可以通过包括请求设备222的设备（诸如测试和测量仪器202、控本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试和测量管理设备，包括：请求队列，用来接收来自请求模块的请求，所述请求包括被测设备的标识和所请求的测量；以及一个或多个处理器，其被配置成：从所述请求队列接收所述请求，基于所述被测设备的标识来生成用来命令光开关选择与所述被测设备相关联的端口的命令，从所述请求确定所请求的测量，并且基于所请求的测量和所述被测设备的标识来生成用来将测试和测量仪器配置成执行所请求的测量的指令。

【技术特征摘要】
2018.03.13 US 62/642008;2018.08.31 US 16/1192481.一种测试和测量管理设备，包括：请求队列，用来接收来自请求模块的请求，所述请求包括被测设备的标识和所请求的测量；以及一个或多个处理器，其被配置成：从所述请求队列接收所述请求，基于所述被测设备的标识来生成用来命令光开关选择与所述被测设备相关联的端口的命令，从所述请求确定所请求的测量，并且基于所请求的测量和所述被测设备的标识来生成用来将测试和测量仪器配置成执行所请求的测量的指令。2.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所述光开关和所述测试和测量仪器的衰减器的指令。3.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所述光开关和所述测试和测量仪器的放大器的指令。4.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述请求包括优先级信息，并且一个或多个处理器还被配置成基于所述优先级信息将所述请求放置在所述请求队列中。5.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述请求队列是先进先出请求队列。6.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述请求包括所述测量的期望持续时间、触发器指示符、去嵌入参数或配置参数中的至少一个。7.一种用于操作测试和管理系统的方法，所述方法包括：从请求队列接收请求，所述请求包括被测设备的标识和所请求的测量；基于所述被测设备的标识来生成用来命令光开关选择与所述被测设备相关联的端口的命令；从所述请求确定所请求的测量；以及基于所请求的测量和所述被测设备的标识来生成用来将测试和测量仪器配置成执行所请求的测量的指令。8.根据权利要求7所述的方法，其中一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所述光开关和所述测试和测量仪器的衰减器的指令。9.根据权利要求7所述的方法，其中一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所...

【专利技术属性】
技术研发人员：JPP维姆，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国,US