【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及测试和测量系统，且更具体涉及用于测量和显示与电动机操作和其他同步机器有关的测量信息的测试和测量系统。
技术介绍
1、直交零(direct quadrature zero,dq0)信息的表示帮助用户测试和测量与电机操作和其他同步机器有关的信息。具体地，dq0是下述变换：其旋转交流(ac)波形的参考系以将它们转换成直流(dc)信号。这些dc信号上的操作对同步机器(诸如，电机)的性能的分析进行简化。
2、尽管呈现dq0向量的信息允许用户确定与dq0向量有关的位置和其他信息，但目前系统缺少随着电机和同步机器的dq0向量随时间变化(尤其是由于动态负载所致的变化)而分析它们的任何能力，这是由于dq向量与电机中的转子磁体的实际实时位置不相关。
3、本公开实施例解决了传统测试和测量系统的这些和其他限制。
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种测试和测量仪器，包括：
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：显示器，被结构化成呈现所生成的DQ0信号和所述合成向量的视觉表示。
3.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中所生成的DQ0信号和所述合成向量是在相量图中图示的。
4.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中所生成的DQ0信号和所述合成向量被图示为标量值。
5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：存储器，用于存储来自所述同步机器的样本数据的集合，并且其中仪器包括：用户接口，被结构化成允许用户从样本数据的集合中选择特定数据样本。
6.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中所述用户基于控制所述仪器的光标功能来选择所述特定数据样本。
7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括显示器，并且其中所述仪器在所述显示器上的相量图中呈现所选择的数据样本的DQ0信号和合成向量。
8.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中用于测量所述机械位置的所述一个或多个传感器包括霍尔传感器、QEI传感器或旋转变压器。p>
9.根据权利要求7所述的测试和测量仪器，进一步包括：偏移接收器，用于接收未对准信息。
10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：用户接口，其允许用户选择与所述合成向量的期望值相关的模板值。
11.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，进一步包括：显示器，被结构化成呈现所生成的DQ0信号和所述合成向量的视觉表示，并且其中在所述显示器上表示所述模板值的违反。
12.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：低通滤波器，通过所述低通滤波器，能够在生成所述DQ0信号之前使信号通过。
13.一种测试和测量仪器，包括：
14.根据权利要求13所述的测试和测量仪器，进一步包括：显示器，被结构化成在相量图中呈现所生成的DQ0信号和所述合成向量的视觉表示。
15.一种测试和测量仪器中的方法，包括：
16.根据权利要求15所述的方法，进一步包括：在显示器上呈现所生成的DQ0信号和所述合成向量的视觉表示。
17.根据权利要求15所述的方法，其中呈现所生成的DQ0信号和所述合成向量的视觉表示包括：呈现相量图。
18.根据权利要求15所述的方法，其中呈现所生成的DQ0和所述合成向量信号的视觉表示包括：呈现标量值的显示器。
19.根据权利要求15所述的方法，进一步包括：将来自所述同步机器的样本数据的集合存储在存储器中；以及从用户接受从样本数据的集合中选择的数据样本。
20.根据权利要求19所述的方法，其中接受所选择的数据样本包括：接收由所述用户控制的光标信息。
21.根据权利要求15所述的方法，进一步包括：在相量图中呈现所选择的数据样本的DQ0信号和合成向量。
22.根据权利要求15所述的方法，其中测量同步机器的机械位置包括：使用霍尔传感器、QEI传感器或旋转变压器中的一个或多个。
23.根据权利要求22所述的方法，进一步包括：接收针对所述霍尔传感器、所述QEI传感器或所述旋转变压器的偏移角度未对准信息。
24.根据权利要求15所述的方法，进一步包括：从用户接收与所述合成向量的期望值相关的所选择的模板值。
25.根据权利要求24所述的方法，进一步包括：呈现由所述合成向量对所选择的模板值的违反。
26.根据权利要求15所述的方法，进一步包括：在测量所述同步机器的机械位置时生成的一个或多个三相信号中的任一个上执行低通滤波。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种测试和测量仪器，包括：
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：显示器，被结构化成呈现所生成的dq0信号和所述合成向量的视觉表示。
3.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中所生成的dq0信号和所述合成向量是在相量图中图示的。
4.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中所生成的dq0信号和所述合成向量被图示为标量值。
5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：存储器，用于存储来自所述同步机器的样本数据的集合，并且其中仪器包括：用户接口，被结构化成允许用户从样本数据的集合中选择特定数据样本。
6.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中所述用户基于控制所述仪器的光标功能来选择所述特定数据样本。
7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括显示器，并且其中所述仪器在所述显示器上的相量图中呈现所选择的数据样本的dq0信号和合成向量。
8.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中用于测量所述机械位置的所述一个或多个传感器包括霍尔传感器、qei传感器或旋转变压器。
9.根据权利要求7所述的测试和测量仪器，进一步包括：偏移接收器，用于接收未对准信息。
10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：用户接口，其允许用户选择与所述合成向量的期望值相关的模板值。
11.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，进一步包括：显示器，被结构化成呈现所生成的dq0信号和所述合成向量的视觉表示，并且其中在所述显示器上表示所述模板值的违反。
12.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：低通滤波器，通过所述低通滤波器，能够在生成所述dq0信号之前使信号通过。
13.一种测试和测量仪器，...
【专利技术属性】
技术研发人员：P·阿迪加，N·R·海格德，K·N·H·斯里，G·J·沃尔多，Y·M·派，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：
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