晶体管测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块。当晶体管接入测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动对晶体管进行测试；晶体管撤离测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动停止测试。通过测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，在进行大量测试时，避免了手工频繁的开关操作，十分方便。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电气测试领域，特别是涉及一种晶体管测试装置。
技术介绍
随着电子科技的发展，电子元器件的应用越来越广泛，尤其是晶体管的应用。人们在购买或使用晶体管时常需要知道所购买或使用的晶体管是否可用，在使用晶体管时还需要知道晶体管的参数，以用于电路开发或电子维修。在晶体管测试初期，采用万用表测试晶体管的好坏，比较麻烦，且测试晶体管参数时测试数据不准确。目前，常用手动晶体管测试仪测试晶体管参数，使用时通过测试开关控制测试。使用开关控制晶体管测试，在进行大量晶体管测试时需要人工频繁控制开关开断，比较麻烦。
技术实现思路
基于此，有必要针对进行大量测试时需要人工频繁控制开关较麻烦的问题，提供一种不需人工控制的晶体管测试装置。一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。在其中一个实施例中，所述测试控制模块包括感应开关和第一继电器，所述感应开关连接所述第一继电器的线圈，所述第一继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。在其中一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，其特征在于，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。

【技术特征摘要】
1.一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，其特征在于，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。2.根据权利要求1所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块包括感应开关和第一继电器，所述感应开关连接所述第一继电器的线圈，所述第一继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。3.根据权利要求2所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述第一继电器的常开开关接地的一端串联第一下拉电阻。4.根据权利要求2所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块还包括控制灯，对应所述第一继电器还包括常闭开关，所述控制灯连接所述第一继电器的常闭开关。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：余廷义，
申请(专利权)人：深圳深爱半导体股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：