【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体测试领域,特别是涉及一种探片器。
技术介绍
随着电子技术的发展,电子产品的电路设计越来越复杂,电路设计中常需要用对晶体管的半导体进行参数性能测试。在对晶体管等半导体进行测试时会出现半导体元件未接触到位的现象导致误测影响半导体元件的正常使用,造成浪费。一般的使用传统的弹片开关作为检测半导体元件接触到位,传统的弹片开关常通过传动装置的移动将弹片顶起或压下使电路导通或断开来判断半导体元件是否接触到位。传统的弹片开关在传动装置作用后回位时常会产生抖动,从而会产生干扰信号干扰电路,并且弹片和接触点接触时会打火从而产生氧化现象导致弹片与接触点之间的接触效果,接触不好会影响电路的正常运行。
技术实现思路
基于此,有必要针对传统弹片回位时抖动和产生氧化后影响电路正常运行的问题,提供一种避免弹片抖动和防氧化的探片器。一种探片器,用于对硅片进行测试时探测硅片的位置,包括弹片、连接所述弹片的固定端将所述弹片固定在印刷电路板上的固定部和传送所述硅片位置并可使所述弹片的活动端移动的传动装置,还包括光电开关和连接所述弹片的活动端并可随所述弹片的活动端移动阻断所述光电开关的发射端与接 ...
【技术保护点】
一种探片器,用于对硅片进行测试时探测硅片的位置,包括弹片、连接所述弹片的固定端将所述弹片固定在印刷电路板上的固定部和传送所述硅片位置并可使所述弹片的活动端移动的传动装置,其特征在于,还包括光电开关和连接所述弹片的活动端并可随所述弹片的活动端移动阻断所述光电开关的发射端与接收端之间信号传输的隔离部。
【技术特征摘要】
1.一种探片器,用于对硅片进行测试时探测硅片的位置,包括弹片、连接所述弹片的固定端将所述弹片固定在印刷电路板上的固定部和传送所述硅片位置并可使所述弹片的活动端移动的传动装置,其特征在于,还包括光电开关和连接所述弹片的活动端并可随所述弹片的活动端移动阻断所述光电开关的发射端与接收端之间信号传输的隔离部。2.根据权利要求1所述的探片器,其特征在于,还包括限制所述弹片运动空间的限位钉,所述限位钉位于所述隔离部相对于所述弹片的同侧。3.根据权利要求2所述的探片器,其特征在于,所述限位钉位置可调。4.根据权利要求1所述的探片器,其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员:余廷义,陈文建,
申请(专利权)人:深圳深爱半导体股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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