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本实用新型公开了一种晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块。当晶体管接入测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动对晶...
该专利属于深圳深爱半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳深爱半导体股份有限公司授权不得商用。

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