【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种探针自动对准电极测试方法、工具及其装置。
技术介绍
对电子部件(如集成电路)测试时,经常会使用到多根活动的测试探针,整个测试过程均要求探针之间稳定隔离以及探针与被测体电极精确对准且有效接触。为了满足这些要求,一般需要复杂的定位方法,效率和通用性较低,且测试成本高。
技术实现思路
本专利技术针对上述现有技术存在的问题作出改进,即本专利技术要解决的技术问题是提供一种定位简单、测试效率高、通用性强且测试成本低的探针自动对准电极对准测试方法、工具及其装置。为了解决上述技术问题,本专利技术的技术方案一是一种探针自动对准电极对准测试工具,包括导引板,所述导引板上开设有多个并列平行的导引槽,相邻的两个导引槽之间形成隔离测试探针的隔板,所述导引槽的端部具有引导被测体电极进入导引槽内的第一入口,所述第一入口为喇叭形开口,所述导引槽的侧部具有引导测试探针进入导引槽内的第二入口。为了解决上述技术问题,本专利技术的技术方案二是一种探针自动对准电极对准测试装置,包括多个如上所述的探针自动对准电极对准测试工具,该些探针自动对准电极对准测试工具制作成一体、组合成一体或串接起来。为了解决上述技术问题,本专利技术的技术方案三是一种探针自动对准电极对准测试方法,按以下步骤进行(I)提供一种如上所述的探针自动对准电极对准测试工具,其中导引槽是根据被测体电极的标准位置而开设的;(2)根据各个被测体电极的电参数需要,安排单个或多重测试探针;(3)从第一入口直接插入被测体电极,所述被测体电极在插入过程中被自动矫正至标准位置;(4)移动测试探针,所述测试探针从第二入口进入导引槽内,并在 ...
【技术保护点】
一种探针自动对准电极对准测试工具,其特征在于:包括导引板,所述导引板上开设有多个并列平行的导引槽,相邻的两个导引槽之间形成隔离测试探针的隔板,所述导引槽的端部具有引导被测体电极进入导引槽内的第一入口,所述第一入口为喇叭形开口,所述导引槽的侧部具有引导测试探针进入导引槽内的第二入口。
【技术特征摘要】
1.一种探针自动对准电极对准测试工具,其特征在于包括导引板,所述导引板上开设有多个并列平行的导引槽,相邻的两个导引槽之间形成隔离测试探针的隔板,所述导引槽的端部具有引导被测体电极进入导引槽内的第一入口,所述第一入口为喇叭形开口,所述导引槽的侧部具有引导测试探针进入导引槽内的第二入口。2.根据权利要求1所述的探针自动对准电极对准测试工具,其特征在于所述第二入口为喇叭形开口。3.一种探针自动对准电极对准测试装置,其特征在于包括多个如权利要求1所述的探针自动对准电极对准测试工具,该些探针自动对准电极对准测试工具制作成一体、组合成...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘坚,
申请(专利权)人:福建合顺微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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