硅片测试机台与BIST模块的通信方法技术

本发明专利技术公开了一种硅片测试机台与BIST模块的通信方法，在硅片测试机台和BIST模块之间设置三根独立的串行通信信号线，分别是：指令和数据线(TDIO)，传输指令和数据；时钟线(TCLK)，传输时钟信号；开始线(STROBE)，传输开始信号；当接收方收到开始线(STROBE)上传输的开始信号，就表示下一个指令或数据即将传输，接收方从而做好接收该指令或数据的准备。本发明专利技术所述通信方法的接口控制信号少，只需要三根信号线；还采用的独立的开始线，在每条指令或数据开始传输之前都先发送一个开始信号，大大方便了测试时调试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体集成电路制造领域，特别是涉及非易失性存储器(NVM， Non-Volatile Memory)的测试技术。
技术介绍
IP 核(IP core, Intellectual Property core,知识产权核)是那些已验证的、可 重复利用的、具有某种确定功能的IC(集成电路)模块。NVMIP核是指具有NVM功能的IC 模块。目前对NVM IP核进行测试采用的是BIST (Built-1n Self Test，内建自测)电路， 该BIST电路分别连接硅片测试机台和NVM IP核，用于对所述NVM IP核进行测试。现有的硅片(wafer)测试机台在进行一般测试时，硅片放置在测试机台中，通过 专用的探针连接到硅片上被测试芯片的裸片(DIE)的焊垫(PAD)上。硅片测试机台具有以 下特点一、测试环境良好，信号干扰小。二、测试机台只能按预选设定好的波形发送数据到 被测芯片的输入端口 ；三、测试机台只能接收输出端口的波形进行显示，不能根据接收到的 信号作出反馈。为了对NVM IP核进行测试，硅片测试机台必须通过一定的接口跟BIST电路连 接，并发送指令，并监测接口总线上的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种硅片测试机台与BIST模块的通信方法，其特征是，在硅片测试机台和BIST模块之间设置三根独立的串行通信信号线，分别是：——指令和数据线(TDIO)，传输指令和数据；——时钟线(TCLK)，传输时钟信号；——开始线(STROBE)，传输开始信号；当接收方收到开始线(STROBE)上传输的开始信号，就表示下一个指令或数据即将传输，接收方从而做好接收该指令或数据的准备。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：雷冬梅，赵锋，
申请(专利权)人：上海华虹NEC电子有限公司，
类型：发明
国别省市：