【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数字处理
,特别涉及寄存器校验方法
,具体是指一种。
技术介绍
高端通讯产品在网络中处于重要位置,可靠性要求很高。而高端通讯产品会大量米用 ASIC (Application Specific Integrated Circuit,专用集成电路)或者 FPGA(Field — ProgrammableGate Array,现场可编程门阵列)设计。现有技术中,对芯片整体失效,可通过芯片间业务校验或业务告警来检测;而对芯片局部失效,特别是软失效,缺乏有效的故障检测手段。所谓软失效,就是指对于基于RAM(random access memory,随机存储器)结构的器件来说,包括 DRAM (Dynamic RandomAccess Memory,动态随机存储器),SRAM (Static RAM,静态随机存储器),FPGA甚至CPU (Central Processing Unit,中央处理器)等,软错误是其不可避免的一个失效模式,主要表现为单BIT (比特)数据发生错误,例如原存储值是0,由于软错误的影响,在某个时刻变成了 I ;或由I变成 ...
【技术保护点】
一种应用于通讯设备的寄存器巡检校验控制方法,其特征在于,所述通讯设备的内存存储有寄存器的镜像数据,所述的方法包括以下步骤:(1)对所述的镜像数据进行循环冗余校验,判断其是否正确,若是,则进入步骤(2),若否,则发出备份错误信息,提示重新向内存写入镜像数据;(2)将所述的内存中的镜像数据与所述的寄存器中的数据进行比较,如果比较结果不一致,则利用所述的镜像数据对所述的寄存器进行重写操作。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡云枝,
申请(专利权)人:上海市共进通信技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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