电子系统、系统诊断电路与其操作方法技术方案

本发明专利技术提供一种电子系统、系统诊断电路与其操作方法。系统诊断电路包括数据寄存器电路、指令寄存器电路、诊断控制器电路、控制寄存器电路以及检测电路。诊断控制器电路依据操作状态来决定将诊断主机的测试数据传输至指令寄存器电路或数据寄存器电路。当经传输至数据寄存器电路的第一测试数据符合预设样式时，检测电路更新控制寄存器电路。在符合联合测试工作群组标准或IEEE 1149.1标准的规范下，本发明专利技术的系统诊断电路可以依据诊断主机的指令而弹性控制对电子系统的诊断操作。

Electronic system, system diagnostic circuit and operation method thereof

The invention provides an electronic system, a system diagnostic circuit and an operation method thereof. The system diagnosis circuit comprises a data register circuit, an instruction register circuit, a diagnosis controller circuit, a control register circuit and a detection circuit. The diagnosis controller circuit determines the test data of the diagnostic host to be transferred to the instruction register circuit or the data register circuit according to the operating state. When the first test data is transmitted to the data register circuit, the detection circuit updates the control register circuit. In accordance with the joint test group or IEEE 1149.1 Standard Specification, system diagnosis circuit of the invention can be based on the instruction of the host diagnosis elastic control diagnostics of the electronic system.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种电子系统诊断技术，且特别是有关于一种电子系统、系统诊断电路与其操作方法。
技术介绍
随着电路设计越趋复杂，越多的功能电路被实现在单一晶片中，于是执行扫描测试所需要的时间也就越来越长。例如，图1示出了联合测试工作群组(JointTestActionGroup,简称：JTAG)标准(或IEEE1149.1标准)的电路方块示意图。电子系统100表示待诊断的目标系统。诊断操作包括(但不限于)除错(debug)、性能监控(performancemonitoring)、追踪(tracing)、测试(testing)及硬件编程(firmwareprogramming)。电子系统100可能包括存储器110和/或其他系统元件120。电子系统100还可能包括多个处理器(processor，例如图1所示处理器130、140与150)。这些处理器130、140与150各自可以经由系统汇流排(systembus)160而存取/控制存储器110和/或系统元件120。这些处理器130、140与150各自包括核心电路(corecircuit)与测试存取口(TestAccessPort,简称：TAP)，如图1所示。诊断主机(diagnostichost)10的测试数据输出接脚TDO耦接至处理器130的测试存取口的测试数据输入接脚TDI，处理器130的测试存取口的测试数据输出接脚TDO耦接至处理器140的测试存取口的测试数据输入接脚TDI，处理器140的测试存取口的测试数据输出接脚TDO耦接至处理器150的测试存取口的测试数据输入接脚TDI，而处理器150的测试存取口的测试数据输出接脚TDO则耦接至诊断主机10的测试数据输入接脚TDI。因此，这些处理器130、140、150与诊断主机10之间的耦接关系为菊炼(daisy-chain)结构。这些处理器130、140与150形成一个扫描链(scanchain)。诊断主机10输出测试时脉(testclock)信号TCK、测试模式选择(testmodeselection)信号TMS与重置信号TRST给这些处理器130、140与150的测试存取口。依据测试模式选择信号TMS的触发，而这些处理器130、140与150的测试存取口可以切换操作状态。因此，这些处理器130、140与150的测试存取口可以执行诊断主机10所发出的测试指令，并将测试结果回传给诊断主机10。然而系统在操作过程中，基于功率管理考量，这些处理器130、140与150其中一个或多个处理器可能会被停止供电。若在扫描链中的任何一个测试存取口被停止供电，则此扫描链将被打断，使得诊断主机10无法对电子系统100进行监督和/或测试。
技术实现思路
本专利技术提供一种电子系统、系统诊断电路与其操作方法。在符合联合测试工作群组(JointTestActionGroup,简称：JTAG)标准(或IEEE1149.1标准)的规范下，系统诊断电路可以依据诊断主机的指令而弹性控制对电子系统的诊断操作。本专利技术的实施例提供一种电子系统的系统诊断电路。系统诊断电路包括接口、数据寄存器电路、指令寄存器电路、诊断控制器电路、控制寄存器电路以及检测电路。接口用以接收第一测试数据。数据寄存器电路为识别码寄存器或是旁路寄存器。诊断控制器电路依据操作状态来决定将第一测试数据传输至指令寄存器电路或数据寄存器电路。当经传输至数据寄存器电路的第一测试数据符合预设样式(predefinedpattern)时，检测电路更新控制寄存器电路。本专利技术的实施例提供一种电子系统，包括一路由电路、至少一处理器电路以及一系统诊断电路。路由电路用以耦接至诊断主机。处理器电路包括核心电路与处理器诊断电路，其中处理器诊断电路耦接至路由电路。系统诊断电路控制路由电路，以决定系统诊断电路、处理器诊断电路与诊断主机之间的耦接关系。系统诊断电路包括接口、数据寄存器电路、指令寄存器电路、诊断控制器电路、控制寄存器电路以及检测电路。接口用以接收第一测试数据。该数据寄存器电路为识别码寄存器或是旁路寄存器。诊断控制器电路用以依据操作状态来决定将第一测试数据传输至指令寄存器电路或数据寄存器电路。当经传输至数据寄存器电路的第一测试数据符合预设样式时，检测电路用以更新控制寄存器电路。本专利技术的实施例提供一种系统诊断电路的操作方法。该操作方法包括：提供接口，以接收第一测试数据；提供数据寄存器电路，其中数据寄存器电路为识别码寄存器或是旁路寄存器；提供指令寄存器电路；提供操作状态来决定将第一测试数据传输至指令寄存器电路或数据寄存器电路；以及当经传输至数据寄存器电路的第一测试数据符合预设样式时，由检测电路更新控制寄存器电路。基于上述，本专利技术各实施例提供一种电子系统、系统诊断电路与其操作方法。在符合JTAG标准(或IEEE1149.1标准)的规范下，系统诊断电路(例如测试存取口(TestAccessPort,简称：TAP))可以依据诊断主机所发出的控制操作而弹性控制对电子系统的诊断操作(例如弹性改变诊断主机对电子系统中多个测试存取口的连接结构，和/或决定是否致能对电子系统中系统元件的存取功能)。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。附图说明图1示出了联合测试工作群组(JointTestActionGroup,简称：JTAG)标准(或IEEE1149.1标准)的电路方块示意图；图2是依照本专利技术实施例说明一种电子系统的电路方块示意图；图3是依照本专利技术实施例说明图2所示系统诊断电路的电路方块示意图；图4示出联合测试工作群组(JTAG)标准(或IEEE1149.1标准)的操作状态方块示意图；图5是依照本专利技术实施例说明一种系统诊断电路的操作方法流程示意图；图6是依照本专利技术实施例说明图2所示路由电路的电路方块示意图；图7是依照本专利技术一实施例说明图3所示数据寄存器电路与控制寄存器电路的电路方块示意图；图8是依照本专利技术实施例说明图7所示检测电路的电路方块示意图；图9是依照本专利技术另一实施例说明图3所示数据寄存器电路与控制寄存器电路的电路方块示意图。附图标记说明：10、20：诊断主机100、200：电子系统；110、250_1：存储器；120、250、250_2：系统元件；130、140、150：处理器；160、240：系统汇流排；210：路由电路；211：第一及闸；212：多工器；213：第二及闸；214：第三及闸；215：第四及闸；216：第五及闸；217：或闸；220：系统诊断电路；221：诊断逻辑电路；222：数据寄存器电路；223：检测电路；224：控制寄存器电路；225：指令寄存器电路；226：诊断控制器电路；227：解多工器；228：多工器；230_1、230_2：处理器电路；231_1、231_2：处理器诊断电路；232_1、232_2：核心电路；710：诊断寄存器；720：识别码寄存器；730：旁路寄存器；740：解多工器；750：多工器；760：选择寄存器电路；805：测试数据；810、820、830、840、860：检查电路；815、850：及闸；825：互斥或运算电路；835：状态顺序检查电路；845本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子系统的系统诊断电路，其特征在于，所述系统诊断电路包括：接口，用以接收第一测试数据；数据寄存器电路，其中所述数据寄存器电路为识别码寄存器或是旁路寄存器；指令寄存器电路；诊断控制器电路，用以依据操作状态来决定将所述第一测试数据传输至所述指令寄存器电路或所述数据寄存器电路；控制寄存器电路；以及检测电路，用以当经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据符合预设样式时，所述检测电路更新所述控制寄存器电路。

【技术特征摘要】
2015.10.27 US 14/924,6821.一种电子系统的系统诊断电路，其特征在于，所述系统诊断电路包括：接口，用以接收第一测试数据；数据寄存器电路，其中所述数据寄存器电路为识别码寄存器或是旁路寄存器；指令寄存器电路；诊断控制器电路，用以依据操作状态来决定将所述第一测试数据传输至所述指令寄存器电路或所述数据寄存器电路；控制寄存器电路；以及检测电路，用以当经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据符合预设样式时，所述检测电路更新所述控制寄存器电路。2.根据权利要求1所述的电子系统的系统诊断电路，其特征在于，所述接口包括：测试数据输入接脚，用以接收所述第一测试数据；测试数据输出接脚，用以输出第二测试数据；以及测试模式选择接脚，用以接收测试模式选择信号。3.根据权利要求1所述的电子系统的系统诊断电路，其特征在于，所述预设样式包含预设前文，而经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据包含前文部分与数据部分，当所述前文部分吻合所述预设前文时，经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据被判定为符合所述预设样式。4.根据权利要求1所述的电子系统的系统诊断电路，其特征在于，所述预设样式包含预设前文，而经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据包含前文部分、数据部分与错误检查码，当所述前文部分吻合所述预设前文，且所述第一测试数据经错误检查演算所得演算结果吻合所述错误检查码时，经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据被判定为符合所述预设样式。5.根据权利要求1所述的电子系统的系统诊断电路，其特征在于，所述检测电路更检查所述系统诊断电路的所述操作状态的变换顺序，以及依据所述操作状态的所述变换顺序以及经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据而获得检查结果；以及当经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据符合所述预设样式，且所述操作状态的所述变换顺序符合包含暂停数据寄存器状态的预设顺序时，所述检测电路更新所述控制寄存器电路。6.根据权利要求1所述的电子系统的系统诊断电路，其特征在于，所述控制寄存器电路包括：通行码寄存器电路，其输入端耦接至所述检测电路的输出端以接收经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据的部分或全部作为通行码，并依据所述通行码而决定是否致能所述系统诊断电路的诊断逻辑电路对所述电子系统的至少一个系统元件的存取功能。7.一种电子系统，其特征在于，所述电子系统包括：路由电路，用以耦接至诊断主机；至少一个处理器电路，包括核心电路与处理器诊断电路，其中所述处理器诊断电路耦接至所述路由电路；以及系统诊断电路，控制所述路由电路以决定所述系统诊断电路、所述处理器诊断电路与所述诊断主机之间的耦接关系，其中所述系统诊断电路包括接口、指令寄存器电路、数据寄存器电路、诊断控制器电路、控制寄存器电路以及检测电路，所述接口用以接收第一测试数据，所述数据寄存器电路为识别码寄存器或是旁路寄存器，所述诊断控制器电路用以依据操作状态来决定将所述第一测试数据传输至所述指令寄存器电路或所述数据寄存器电路，当经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据符合预设样式时，所述检测电路用以更新所述控制寄存器电路。8.根据权利要求7所述的电子系统，其特征在于，所述接口包括：测试数据输入接脚，用以接收所述第一测试数据；测试数据输出接脚，用以输出第二测试数据；以及测试模式选择接脚，用以接收测试模式选择信号。9.根据权利要求7所述的电子系统，其特征在于，所述预设样式包含预设前文，而经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据包含前文部分与数据部分，当所述前文部分吻合所述预设前文时，经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据被判定为符合所述预设样式。10.根据权利要求7所述的电子系统，其特征在于，所述预设样式包含预设前文，而经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据包含前文部分、数据部分与错误检查码，当所述前文部分吻合所述预设前文，且所述第一测试数据经错误检查演算所得演算结果吻合所述错误检查码时，经传输至所述数据寄存器电路的所述第一测试数据被判定为符合所述预设样式。11.根据权利要求7所述的电子系统，其特征在于，所述检测电路还检查所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈忠和，
申请(专利权)人：晶心科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71