【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种为在存储器元件内存储的数据提供数据保护的方法及其集成电路器件。
技术介绍
在集成电路器件领域内,特别是在用于汽车应用的集成电路器件领域内,用纠错码(ECC)保护存储在RAM (随机存取存储器)内的数据,特别是针对由错误事件例如α辐射、大气中子等引起的数据内的“软错误”提供保护,是众所周知的。这种纠错码的例子是提供单位纠错和双位错误检测的扩展汉明码、夏码(Hsia codes)以及类似的线性码。·随着加工技术的发展以及被缩小到纳米,单错误事件(例如,由单一字母或中子粒子引起的)可能会引起RAM内多个相邻位单元改变状态,并且因此被损坏。因此,由传统的ECC技术单独提供的单一位纠错不足以防止这种错误事件。为了克服这个问题,已知交织存储在RAM块内的数据字。以这种方式,在所述RAM块内数据字的相邻数据位不是相邻于彼此被存储的。这种技术通常被表示为多路复用器(MUX)因子。例如,图I说明了带有MUX因子‘4’的RAM 100的简化框图。因此,4个数据字110、120、130、140 (为方便说明,每个包括4个位)被交织成RAM块100的位单元的单一行15 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
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