【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种半导体元件用外延基板,尤其涉及一种使用III族氮化物而构成的外延基板。
技术介绍
氮化物半导体由于具有直接迁移型的宽带隙(bandgap )、高绝缘击穿电场和高饱和电子速度,因此作为LED或LD等发光器件,或HEMT(HighElectronMobilityTransistor)等高频率/大功率的电子器件用半导体材料而受到关注。例如,将由AlGaN构成的势垒层和由GaN构成的沟道层层叠而成的HEMT (高电子迁移率晶体管)元件是利用以下特征的元件根据氮化物材料特有的强极化效应(自发极化效应和压电极化 效应)在层叠界面(异质界面)生成高浓度二维电子气(2DEG)(例如,参照非专利文献I)。作为在HEMT元件用外延基板中采用的基底基板,有时使用如SiC这样的组分与III族氮化物不同的单晶(异种单晶)。此时,通常应变超晶格层或低温生长缓冲层等缓冲层作为初始生长层在基底基板之上形成。由此,在基底基板上外延形成阻挡层、沟道层、以及缓冲层,成为使用了由异种单晶构成的基底基板的HEMT元件用基板的最基本的构成方式。除此之外,为了促进对二维电子气的空间上的封闭 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:三好实人,角谷茂明,市村干也,前原宗太,田中光浩,
申请(专利权)人:日本碍子株式会社,
类型:
国别省市:
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