微穿通型IGBT器件及其制作方法技术

技术编号:8162645 阅读:176 留言:0更新日期:2013-01-07 20:14
本发明专利技术公开了一种微穿通型IGBT器件,包括:衬底,所述衬底具有第一导电类型的集电区、第二导电类型的漂移区、第一导电类型的阱区以及第二导电类型的源区;栅极;位于集电区与漂移区之间的第二导电类型的微穿通区,所述微穿通区的掺杂浓度高于漂移区的掺杂浓度。通过在漂移区和集电区间形成了掺杂浓度比漂移区的浓度高的微穿通区,使得在关断期间,衬底的电场强度在微穿通区中基本降到零,因此衬底厚度可以明显减薄,使IGBT具有更低的导通电阻、饱和压降、以及更低的通态损耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体制造技术,更具体地说,涉及一种绝缘栅双极晶体管及其制造方法。
技术介绍
绝缘栅双极晶体管(IGBT,Insulated Gate Bipolar Transistor)是新型的大功率器件,它集MOSFET栅极电压控制特性和双极型晶体管低导通电阻特性于一身,改善了器件耐压和导通电阻相互牵制的情况,具有高电压、大电流、高频率、功率集成密度高、输入阻抗大、导通电阻小、开关损耗低等优点。在变频家电、工业控制、电动及混合动力汽车、新能源、智能电网等诸多领域获得了广泛的应用空间。对于绝缘栅双极晶体管,主要包括平面型IGBT结构和沟槽型IGBT结构。如图I所示,图I中为平面型IGBT的示意图,以N型沟道为例,主要包括衬底100背面的P+集电区108 ;衬底正面的栅介质层102和栅极101 ;衬底中位于集电区108之上的N-漂移区106、漂移区106上的P阱区103、P阱区上的N+源区104 ;覆盖源区的发射极109,通常地,还在与发射极109接触的P阱103表面层中形成有P+区105,以与发射极形成良好的欧姆接触。对于沟槽型IGBT,如图2所示,以N型沟道为例,主要包括衬底2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种绝缘栅双极晶体管,包括:衬底,所述衬底具有第一导电类型的集电区、第二导电类型的漂移区、第一导电类型的阱区以及第二导电类型的源区,以及栅极;其特征在于,还包括:位于集电区与漂移区之间的第二导电类型的微穿通区,所述微穿通区的掺杂浓度高于漂移区的掺杂浓度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱阳军田晓丽孙宝刚卢烁今
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
类型:发明
国别省市:

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