一种芯片测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种芯片测试装置，属于芯片测试领域，包括比较器和N个IP核，测试输入信号同时连接到N个IP核，其中一个IP核IP_M的所有测试输出直接输出到芯片外进行测试，其它IP核与IP_M的所有测试输出连接到比较器上进行比较，比较器的比较结果输出到芯片外进行测试，与现有技术相比，本发明专利技术在不增加或增加少量测试复用引脚的情况下完成芯片是否缺陷的检测，既缩短了测试所需的时间，又减少了测试时芯片引脚的复用数量，极大提高了测试效率，节约了测试成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试领域，特别涉及具有多个相同微处理器 IP(IntellectualProperty)核的芯片测试装置。
技术介绍
随着芯片集成度以及测试成本的增加，可测试设计技术(DFT)在芯片设计中显的越来越重要，如何用最有效的方法完成测试成为芯片设计之初就需要考虑的一项重要的内容，随着芯片功能的不断增强，越来越多的IP (如DSP、ARM等)核被集成到同一块芯片中， 同时集成有多个相同微处理器IP核的芯片也屡见不鲜，要完成其中每个核的测试就必须对每个核的输入输出在测试模式下复用到芯片的输入输出引脚来完成芯片的测试。如何判断具有多个相同IP核的芯片是否存在缺陷，通常的方法有两种1.例如芯片有IP核A、IP核B和IP核C，通过测试模式选择IP核A、B、C以串行的方式完成各个核的测试，在这种情况下，虽然IP核A、B、C可以复用相同的芯片引脚完成测试，但是三核是以串行的方式测试的，IP核测试时间=IP核A的测试时间+IP核B的测试时间+IP核C的测试时间，芯片的测试效率较低。2.将IP核A、B、C的测试引脚复用到不同的芯片引脚上， 完成三核的同时测试，虽然在这种情况下IP核测试时本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种芯片测试装置，其特征在于，包括比较器和Ｎ个ＩＰ核，测试输入信号同时连接到Ｎ个ＩＰ核，其中一个ＩＰ核ＩＰ＿Ｍ的所有测试输出直接输出到芯片外进行测试，其它ＩＰ核与ＩＰ＿Ｍ的所有测试输出连接到比较器上进行比较，比较器的比较结果输出到芯片外进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邱远，贾伟，李红宝，
申请(专利权)人：重庆重邮信科通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：85