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本发明提供一种芯片测试装置，属于芯片测试领域，包括比较器和N个IP核，测试输入信号同时连接到N个IP核，其中一个IP核IP_M的所有测试输出直接输出到芯片外进行测试，其它IP核与IP_M的所有测试输出连接到比较器上进行比较，比较器的比较结果...
该专利属于重庆重邮信科通信技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆重邮信科通信技术有限公司授权不得商用。

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