本发明专利技术揭露一种电子产品极限开关机测试装置，其包括：微控制单元，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元，与所述微控制单元电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元，与所述微控制单元电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元，与所述微控制单元电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。利用本发明专利技术提供的测试装置无需依赖电脑、通用接口总线(GPIB)卡或其他测试仪器，大大提高了硬件测试的效率，并且其制作使用简便，成本低廉。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子产品检测
，特别涉及一种电子产品极限开关机测试装置。
技术介绍
电子产品硬件测试有一个很重要的项目就是对其(如手机、无线通信模块)进行数万次的极限开关机测试。目的是通过频繁开关机后观测开关机按键(power key)引脚及整个硬件电路工作是否正常，同时也检查软件Flash中的内容有无擦除或混乱或跑飞的现象。在现有技术中，往往采用的极限开关机测试需要专门的开关机测试仪或由电脑、 通用接口总线(GPIB)和应用软件组成测试系统控制power key拉高拉低电平来测试，因而对外部设备的依赖性很大。当测试项目众多的情况下，经常由于无法协调到开关机测试仪或电脑或GPIB卡，降低了测试的效率，进而耽误测试进度，造成项目延误。
技术实现思路
本专利技术旨在解决现有技术中，对电子产品进行测试时，对外部设备的依赖性很大， 测试的效率低下等技术问题。有鉴于此，本专利技术提供一种电子产品极限开关机测试装置，包括微控制单元，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元，与所述微控制单元电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元，与所述微控制单元电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元，与所述微控制单元电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。进一步的，所述微控制单元还包括开关机按键控制单元，用于连接被测电子产品的开关机按键，以给所述开关机按键提供电压并控制所述电压的保持时间。进--步的，所述微控制单元为89S51单片机或89S52单片机。进--步的，所述输入单元为一键盘。进--步的，所述显示单元为数码管。进--步的，所述数码管为共阳极接法或共阴极接法。进--步的，所述显示单元还包括8位锁存器和3-8译码器；其中所述8位锁存器起数码管段选作用，所述3-8译码器起数码管选通作用。进一步的，所述电源管理单元，包括供电输入接口，以及供电输出接口。进一步的，所述开关机按键控制单元，包括多路输出接口，以控制多个被测电子产品进行测试。进一步的，所述测试装置还包括下载口单元，与所述微控制单元电性连接，用于对所述微控制单元进行操作。进一步的，所述测试装置还包括串口单元，与所述微控制单元电性连接，用于与计算机进行通信。因此，利用本专利技术提供的测试装置无需依赖电脑、通用接口总线(GPIB)卡或其他测试仪器，大大提高了硬件测试的效率，并且其制作使用简便，成本低廉。附图说明图1所示为本专利技术一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的功能方块图；图2所示为本专利技术一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的原理框图；图3所示为本专利技术中实施例的测试程序流程图；图4所示为本专利技术中实施例的键盘输入单元按键判断子程序流程图；图5所示为本专利技术中实施例的定时器中断子程序流程图。具体实施例方式下面结合附图给出本专利技术较佳实施例，用以详细说明本专利技术的技术方案，以使本
的技术人员能更易于理解本专利技术的方法特征和功能特点，而不是用来限定本专利技术方法的范围。请参见图1，其所示为本专利技术一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的功能方块图。该装置，包括微控制单元110，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元 120，与所述微控制单元110电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元130，与所述微控制单元110电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元140，与所述微控制单元110电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。在本专利技术的实施例中，所述微控制单元110还包括开关机按键控制单元，用于连接被测电子产品150的开关机按键，以给所述开关机按键提供电压并控制所述电压的保持时间。在本专利技术的实施例中，所述微控制单元110为89S51单片机或89S52单片机，以及有中断控制器和可编程I/O 口，能起定时、计数作用的单片机或电路等，只要能实现本专利技术的控制功能的单片机或电路均属于本专利技术的范围。在本专利技术的实施例中，所述输入单元120为一键盘。用户可以通过操作该键盘控制微控制单元110进而操作电子产品极限开关机测试装置，设置极限开关机测试的模式和循环周期。在本专利技术的实施例中，所述显示单元130为数码管。用于在八段数码显示管上显示极限开关机测试的模式和剩余的测试次数，使用户感受更加直观。其数码管可以为共阳极接法，亦可为共阴极接法。在本专利技术的实施例中，所述电源管理单元140用于给被测试电子产品150和电子产品极限开关机测试装置提供能正常工作的电压。它既包含供电输入接口，又包含供电输出接口。其中供电输入接口可通过电源适配器、数字电源等设备为电子产品极限开关机测试装置供电。供电输出接口提供了待测电子产品正常工作电压GV)的引线和开关机按键 (Power key)高电平(4V)低电平(OV)输出的引线。在本专利技术的实施例中，所述开关机按键控制单元，包括多路输出接口，以控制多个待测电子产品进行测试。在本专利技术的实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括下载口单元，与所述微控制单元110电性连接，用于对所述微控制单元进行读写、擦除、升级、自动校验数据等操作。在本专利技术的实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括串口单元，与所述微控制单元110电性连接，用于与计算机进行通信。可以进一步开发代码、扩展功能。请参见图2，其所示为本专利技术一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的原理框图。在本实施例中，电子产品极限开关机测试装置，包括微控制单元210 ；以及与微控制单元210电性连接的键盘输入单元220、显示单元230、以及电源管理单元M0。电子产品极限开关机测试装置的微控制单元210采用的是89S51单片机。显示单元230为八段数码管231可以为共阳极接法，亦可为共阴极接法。在数码管外围包含8位锁存器232 (74HC374)和3_8译码器233 (74HC138)。其中8位锁存器232 起段选作用，其LE为低电平锁存，高电平保持。3-8译码器233起数码管选通作用，3_8译码器233的输出常态为高电平，选中为低电平，用来接LE使8位锁存器232处于保持状态。89S51单片机210中的开关机按键控制部分有五路输出端口 P3. 3 P3. 7，可以控制五块待测电子产品250进行测试。端口 P3. 3 P3. 7控制可以为高电平开机有效或低电平开机有效。此外89S51单片机210内部定时器TO控制开关机按键保持时间和按键后的等待时间。在本实施例中，电源管理单元240为6V电源适配器，以给待测电子产品250和电子产品极限开关机测试装置供电。在本实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括下载口 270，与89S51单片机210电性连接，用于对89S51单片机210进行读写、擦除、升级、自动校验数据等操作。在本实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括串口沈0，与所述89S51 单片机210电性连接，用于与计算机进行通信。可以进一步开发代码、扩展功能。利用本实施例提供的电子产品极限开关机测试装置进行测试的过程，请结合参见图2及图3。首先，进行系统初始化，令89S51单片机210的端口 P3. 2/INT0作为按键中断，令定时器TO产生按键保持时间、开机等待时间、关机等待时间、掉本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种电子产品极限开关机测试装置，其特征在于，包括：微控制单元，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元，与所述微控制单元电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元，与所述微控制单元电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元，与所述微控制单元电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：任东，
申请(专利权)人：希姆通信息技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。