一种用于电子产品测试的工装单元制造技术

技术编号:10545656 阅读:147 留言:0更新日期:2014-10-15 19:47
本实用新型专利技术属于电子产品测试工装技术领域,尤其涉及一种用于电子产品测试的工装单元。包括外板和与之固接的安装板,在外板的中部设有两排探针孔,在安装板的上表面设有凹槽、下表面设有正对凹槽的位置、用于容置连接器的卡槽,在卡槽的底部设有贯通凹槽与卡槽、位置与外板上的探针孔位置对应的两排探针孔,在该探针孔内设有探针;所述探针包括中部带有凸台的杆体,在杆体的下段套设有弹簧,杆体的尖端位于安装板上的探针孔内、后端位于外板上的安装孔内、凸台的上沿与外板的下表面接触、弹簧的下沿与安装板的上表面接触;连接器落入卡槽内时,尖端与其导电体的外侧相接触。本实用新型专利技术的用于电子产品测试的工装单元结构简单、使用寿命长。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术属于电子产品测试工装
,尤其涉及一种用于电子产品测试的工装单元。包括外板和与之固接的安装板,在外板的中部设有两排探针孔,在安装板的上表面设有凹槽、下表面设有正对凹槽的位置、用于容置连接器的卡槽,在卡槽的底部设有贯通凹槽与卡槽、位置与外板上的探针孔位置对应的两排探针孔,在该探针孔内设有探针;所述探针包括中部带有凸台的杆体,在杆体的下段套设有弹簧,杆体的尖端位于安装板上的探针孔内、后端位于外板上的安装孔内、凸台的上沿与外板的下表面接触、弹簧的下沿与安装板的上表面接触;连接器落入卡槽内时,尖端与其导电体的外侧相接触。本技术的用于电子产品测试的工装单元结构简单、使用寿命长。【专利说明】
本技术属于电子产品测试工装
,尤其涉及一种用于电子产品测试的 工装单元。 -种用于电子产品测试的工装单元
技术介绍
现代社会中,随着电子行业的长足发展,各类电子产品进入了人们的生活。模块化 设计是各类电子产品的主流结构设计模式,因此在组成模块的部件中经常采用如附图1至 3所示的连接器5,用于实现单个模块与其它模块和整体系统的连接。连接器5 -般包括 连接器本体5-2,在连接器本体5-2的上表面一体成型有插接用的插槽5-1,在插槽5-1内 并列设有多个导电体,导电体的端部向下穿过连接器本体5-2并向外侧弯折形成多个端脚 5-3。安装时,连接器本体5-2固定在电路板上,功能部件如摄像头、扬声器等通过排线与连 接器5相连接,连接器5再通过排线连接至其它模块或者整体电路框架。功能单元如摄像 头单元、扬声器单元等在完成组装之后通常需要在测试工装上进行接入测试,以检测品质。 对于上述连接器5来说,测试工装上需要有一组连接单元模拟排线的连接,将功能单元接 入到测试系统内完成品质的测试。现有的用于测试工装的工装单元一般结构复杂,其探针8 一般都是组装产品,具体结构参见附图5 :包括位于中部的、内部设有弹簧8-3的套筒8-2, 在套筒8-2的前端插接有前顶杆8-1、后端插接有后杆体8-4。使用时,前顶杆8-1 -般是与 导电体外露于插槽5-1侧壁(连接器本体5-2表面)的部分点接触或者点接触在导电体的 外侧。前一接触方式时,探针8受轴向作用力,后一接触方式时,探针8受径向作用力。上 述结构存在如下弊端:当采用侧面进行接触而受到径向压力时,导致探针8的前顶杆8-1过 早发生弯曲,寿命降低。
技术实现思路
本技术为解决公知技术中存在的技术问题而提供一种结构简单、使用寿命长 的用于电子产品测试的工装单元。 本技术为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是:一种用于电 子产品测试的工装单元包括外板和与之固接的安装板,在外板的中部设有两排探针孔,在 安装板的上表面设有凹槽、下表面设有正对凹槽的位置、用于容置连接器的卡槽,在卡槽的 底部设有贯通凹槽与卡槽、位置与外板上的探针孔位置对应的两排探针孔,在该探针孔内 设有探针;所述探针包括中部带有凸台的杆体,在杆体的下段套设有弹簧,杆体的尖端位于 安装板上的探针孔内、后端位于外板上的安装孔内、凸台的上沿与外板的下表面接触、弹簧 的下沿与安装板的上表面接触;连接器落入卡槽内时,尖端与其导电体的外侧相接触。 本技术的优点和积极效果是:本技术提供了一种结构简单紧凑、形成独 立功能单元的用于电子产品测试的工装单元,可以与其它工装单元便捷地组合,实现针对 带有连接器和排线的电子产品完整的组合测试功能。与现有技术相比,结构优化后的探针 采用一体化结构,增大了整体的强度,伸缩功能由探针的弹簧、外板和安装板三者共同来实 现,一体化结构的探针在径向具有更高的结构强度,在与连接器本体上的导电体的外侧连 接的过程中,有效防止弯曲,延长了整个工装单元的使用寿命。 优选地:在所述外板的边缘设有多个连接孔。 优选地:在所述安装板的下表面、卡槽的周围设有多个限位块。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术的结构示意图; 图2是本技术去掉外板时的结构示意图; 图3是本技术中探针与连接器的配合结构示意图; 图4是本技术中探针的结构示意图; 图5是现有技术中探针的结构示意图。 图中:1、外板;2、安装板;3、连接孔;4、限位块;5、连接器;5-1、插槽;5-2、连接器 本体;5-3、端脚;6、卡槽;7、探针;7-1、尖端;7-2、弹簧;7-3、凸台;7-4、后端;8、探针;8-1、 前顶杆;8-2、套筒;8-3、弹簧;8-4、后杆体。 【具体实施方式】 为能进一步了解本技术的
技术实现思路
、特点及功效,兹例举以下实施例详细说 明如下: 请参见图1和图2,本技术包括外板1和与之固接的安装板2,在外板1的中 部设有两排探针孔,在安装板2的上表面设有凹槽、下表面设有正对凹槽的位置、用于容置 连接器5的卡槽6,在卡槽6的底部设有贯通凹槽与卡槽6、位置与外板1上的探针孔位置 对应的两排探针孔,在该探针孔内设有探针7。 请参见图3和图4,可以看出探针7包括中部带有凸台7-3的杆体,在杆体的下段 套设有弹簧7-2,杆体的尖端7-1位于安装板2上的探针孔内、后端7-4位于外板1上的安 装孔内、凸台7-3的上沿与外板1的下表面接触、弹簧7-2的下沿与安装板2的上表面接触。 当连接器5落入卡槽6内时,探针7的尖端7-1与连接器本体5-2上的导电体的 外侧相接触。 本实施例中,为了便于本工装单元与其它工装单元进行组合安装,在外板1的边 缘设有多个连接孔3,为了便于对测试工件进行限位定位,在安装板2的下表面、卡槽6的周 围设有多个限位块4。【权利要求】1. 一种用于电子产品测试的工装单元,其特征在于:包括外板(1)和与之固接的安装 板(2),在外板(1)的中部设有两排探针孔,在安装板(2)的上表面设有凹槽、下表面设有 正对凹槽的位置、用于容置连接器(5)的卡槽(6),在卡槽(6)的底部设有贯通凹槽与卡槽 (6)、位置与外板(1)上的探针孔位置对应的两排探针孔,在该探针孔内设有探针(7);所 述探针(7)包括中部带有凸台(7-3)的杆体,在杆体的下段套设有弹簧(7-2),杆体的尖端 (7-1)位于安装板(2)上的探针孔内、后端(7-4)位于外板(1)上的安装孔内、凸台(7-3) 的上沿与外板(1)的下表面接触、弹簧(7-2)的下沿与安装板(2)的上表面接触;连接器 (5)落入卡槽(6)内时,尖端(7-1)与其导电体的外侧相接触。2. 如权利要求1所述的用于电子产品测试的工装单元,其特征在于:在所述外板(1) 的边缘设有多个连接孔(3)。3. 如权利要求1所述的用于电子产品测试的工装单元,其特征在于:在所述安装板(2) 的下表面、卡槽(6)的周围设有多个限位块(4)。【文档编号】G01R1/04GK203881804SQ201420199608【公开日】2014年10月15日 申请日期:2014年4月23日 优先权日:2014年4月23日 【专利技术者】卢永均 申请人:天津可巴特电子有限公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于电子产品测试的工装单元,其特征在于:包括外板(1)和与之固接的安装板(2),在外板(1)的中部设有两排探针孔,在安装板(2)的上表面设有凹槽、下表面设有正对凹槽的位置、用于容置连接器(5)的卡槽(6),在卡槽(6)的底部设有贯通凹槽与卡槽(6)、位置与外板(1)上的探针孔位置对应的两排探针孔,在该探针孔内设有探针(7);所述探针(7)包括中部带有凸台(7‑3)的杆体,在杆体的下段套设有弹簧(7‑2),杆体的尖端(7‑1)位于安装板(2)上的探针孔内、后端(7‑4)位于外板(1)上的安装孔内、凸台(7‑3)的上沿与外板(1)的下表面接触、弹簧(7‑2)的下沿与安装板(2)的上表面接触;连接器(5)落入卡槽(6)内时,尖端(7‑1)与其导电体的外侧相接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:卢永均
申请(专利权)人:天津可巴特电子有限公司
类型:新型
国别省市:天津;12

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