一种电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电路测试装置，包括测试装置本体、测试孔连线及与所述测试孔相连的多路电路，还包括刀盘及位于所述刀盘外侧的旋钮，其中：所述刀盘由多段圆弧状导体组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成，所述内导体和外导体圆心相同，互不相连；各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体；所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片，所述接触片随着旋钮同步转动，并同时连接所述接触片所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体。利用实施例，操作者在进行电路测试时无需反复插拔表笔，提高工作效率且降低了出错概率。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路测试
，更具体地说，涉及一种电路测试装置。
技术介绍
现有的测试仪表面板上会对应测试要求设置相应的测试档位，每个测试档位有相应的测试孔，操作者进行电路测试时，需要对测试孔进行判断，确定测试孔后再将电笔插入测试，当测试孔数量较多时就难免出现插错现象。为解决上述问题，现有技术提供了一种技术方案，该方案在用户选择不同的测试档时采用凸轮片遮挡其他测试孔而保留相应的测试孔，从而实现了避免表笔误插的目的。但是，技术人在实施本技术创造过程中，发现上述方案虽然能够防止表笔误插，但至少存在以下缺陷测试仪表上仍然需要保留对应不同测试档位的多个测试孔，使用者在执行测试操作时，需要反复插拔表笔来实现换挡(更换测试档位)，操作程序比较繁琐。
技术实现思路
本技术实施例提供了一种电路测试装置，以解决现有技术由于需要有多个测试孔而导致操作程序繁琐的问题。本技术实施例提供的技术方案如下一种电路测试装置，包括测试装置本体、设置在所述本体上的测试孔连线及设置在所述本体内部的多路电路，所述测试孔与所述多路电路相连接，所述测试装置还包括设置在所述测试本体内的刀盘及与设置在所述测试本体的壳体上且位于所述刀盘外侧的旋钮，其中所述刀盘由多段圆弧状导体组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成，所述内导体和外导体圆心相同， 互不相连；各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体；所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片，所述接触片随着旋钮同步转动，并同时连接所述接触片所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体。优选的，上述电路测试装置中，所述接触片设置在旋钮朝向所述刀盘一侧的圆盘上。优选的，上述电路测试装置中，所述接触片具有两个触脚，能够分别与圆弧状导体的内导体和外导体相接触。优选的，上述电路测试装置中，所述接触片成倒V字形或倒U字形，开口朝向所述刀盘。优选的，上述电路测试装置中，所述刀盘呈圆环状。优选的，上述电路测试装置中，所述多路电路包括直流电流电路、交流电流电路、3直流电压电路、交流电压电路和电阻电路。与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点本技术实施例提供的电路测试装置预先将测试孔与各路电路连通，通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，即可切换测试档位，从而使得对各电路的测试能够共用测试孔，操作者在进行电路测试时，只需将表笔插入该测试孔，然后通过旋转旋钮即可实现对多个测试档位的测试，无需反复插拔表笔，操作程序简单，提高工作效率且降低了出错概率。附图说明通过附图所示，本技术的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本技术的主旨。图1为本技术实施例提供的一种电路测试装置的结构示意图；图2为本技术实施例提供的一种电路测试装置中电路和测试孔之间的结构示意图1 ；图3为本技术实施例提供的一种电路测试装置中连接片与刀盘接触的示意图；图4为本技术实施例提供的一种电路测试装置中刀盘的结构示意图；图5-图7为本技术实施例提供的一种电路测试装置的工作示意图；图8为本技术实施例提供的另一种电路测试装置的刀盘结构示意图。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，以下结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是本技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似推广，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。其次，本技术结合示意图进行详细描述，在详述本技术实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不以一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本技术保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。针对现有技术存在的由于存在多个测试孔，测试人员需要反复插拔表笔，测试步骤繁琐费时的问题，本技术提供了一种解决方案，其基本思想是通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，以切换测试档位。本实施例提供了一种电路测试装置，其一种结构如图1所示，包括测试装置本体 (图中未示出)、测试孔11、设置在所述本体内部的多路电路12、刀盘13和旋钮(图中未示出)，其中所述测试孔11与各路电路12相连接，如图2所示；所述刀盘13设置于所述测试本体内，作为切换开关置于所述测试孔与各路电路12之间，由多段圆弧状导体131组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体132和一个半径较大的外导体133组成，所述内导体132和外导体133 圆心相同，互不相连。各路电路12的两极(正负极)分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体。可以这么认为，刀盘只是对于PCB板上某种布线方式的一个行业内的通常称谓， 对于本文所提出的方案来说，就是一个连接一个断路的正负极的导同心圆弧段。所述旋钮设置在所述测试本体的壳体上且位于所述刀盘13外侧，其朝向所述刀盘13的一侧设置有接触片14，所述接触片14随着旋钮同步转动，并同时与所述刀盘13上与所述接触片14位置对应的圆弧状导体的内导体132和外导体133相接触或相分离，当相接触时，相应电路被导通，当相分离时，相应电路被断开。所述接触片14的形状可以是平面片状，也可以是其他任意形状，只要是能够接通内导体132和外导体133即可。优选的，所述接触片14可以是倒u状或者倒ν状，如图3所示，开口朝向所述刀盘 13，在与刀盘13接触时，其两个支脚分别与刀盘13某圆弧状导体的内导体132和外导体 133相接触，并在具有一定压力时能够产生一定弹性形变，从而能保证接触片14和刀盘13 某圆弧状导体的内导体132和外导体133之间的接触良好。所述接触片14可以通过固定部固定于所述旋钮朝向所述刀盘13的一侧上，优选的，所述固定部可以是圆盘，该圆盘套装在旋钮的内轴(图中未示出)，位于所述旋钮和所述刀盘13之间，且能够随着旋钮的同步转动。所述刀盘13可以呈如图1所示的圆环状，也可以是圆环段，如图4所示，一般情况下，如果测试档位不多，则所述刀盘13可以是圆环段。所述多路电路可以包括直流电流电路、交流电流电路、直流电压电路、交流电压电路和电阻电路中的任意两路或任意多路。本技术提供的上述机械式测试装置，通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，即可切换测试档位，从而使得对各电路的测试能够共用测试孔，操作者在进行电路测试时，只需将表笔插入该测试孔，然后通过旋转旋钮即可实现对多个测试档位的测试，无需反复插拔表笔，操作程序简单，提高工作效率且降低了出错概率。为了更清楚地表述本实施例的技术方案，下面以接触片14为平面片，测试档位包括对应直流电流电路、交流电流电路、直流电压电路、交流电压电路和电阻电路的档位，刀盘13呈圆环状为例，结合图5 图7，介绍本实施例的工作过程假设初始位置时，接触片14位于电阻电路测试档位(R)，同时接触外导体133和内导体132，导通电阻电路，此时，测试者将电笔插进测试孔和本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种电路测试装置，包括测试装置本体、设置在所述本体上的测试孔连线及设置在所述本体内部的多路电路，其特征在于，所述测试孔与所述多路电路相连接，所述测试装置还包括设置在所述测试本体内的刀盘及与设置在所述测试本体的壳体上且位于所述刀盘外侧的旋钮，其中：所述刀盘由多段圆弧状导体组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成，所述内导体和外导体圆心相同，互不相连；各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体；所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片，所述接触片随着旋钮同步转动，并同时连接所述接触片所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：唐先德，李红，李贵栓，
申请(专利权)人：优利德科技中国有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44