半导体元件及半导体元件的制造方法技术

技术编号:6066344 阅读:165 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种半导体元件及半导体元件的制造方法,其抑制寄生元件所产生的影响,并且能够防止导通电压增大。在n-型的漂移区域(1)的表面层设有p型的基极区域(2)。在半导体基板的表面上设有贯通基极区域(2)且到达漂移区域1的沟槽(3)。在沟槽(3)的内部隔着栅极绝缘膜(4)而设有栅电极(5)。在基极区域(2)的表面层选择性地设有第一凹部(6)。即,基极区域(2)的表面呈由第一凹部(6)和未设有第一凹部(6)的凸部构成的凹凸形状。第一凹部(6)与沟槽(3)相接。此外,与栅电极(5)的上端相比,第一凹部(6)的底面设置为距基板表面更深。源电极(8)与基极区域(2)的凸部相接,且埋入第一凹部(6)的内部。

Semiconductor element and method for manufacturing semiconductor device

The present invention provides a semiconductor device and a method of manufacturing a semiconductor element, which inhibits the influence of parasitic elements and prevents the turn-on voltage from increasing. A p type base region (2) is provided in the surface layer of the n- type drift region (1). A trench (3) is provided on the surface of the semiconductor substrate to pass through the base region (2) and reach the drift region 1. A gate electrode (5) is disposed across the trench (3) across the gate insulating film (4). A first recess (6) is selectively disposed in the surface layer of the base region (2). That is, the surface of the base region (2) is provided with a concave shape composed of a first recess (6) and a convex part without a first recess (6). The first recess (6) is connected with the groove (3). Moreover, compared with the upper end of the gate electrode (5), the bottom surface of the first recess (6) is set apart from the surface of the substrate. The source electrode (8) is connected with the projection of the base region (2) and is embedded in the interior of the first recess (6).

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。
技术介绍
作为在电动车(EV=Electric Vehicle)等中使用的电力变换装置,消耗电力少且由电压控制容易驱动的绝缘栅型半导体元件最为普及。作为绝缘栅型半导体元件, 已知有绝缘栅型电场效应晶体管(MOSFET =Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)或绝缘栅型双极晶体管(IGBT Jnsulated Gate Bipolar Transistor)等。以下,在本说明书及附图中,在冠以η或ρ的层或区域中,分别表示电子或空穴为多个载流子。另外,赋予η或ρ的+及-分别表示与未标注的层或区域相比为高杂质浓度及低杂质浓度。图17是表示现有的半导体元件的剖视图。作为现有的绝缘栅型半导体元件,例如对沟槽栅结构的MOSFET进行说明。在构成η-型的漂移区域101的半导体基板的表面上设有P型的基极区域102。另外,设有贯通基极区域102而到达漂移区域101的沟槽103。在沟槽103的内部隔着栅极绝缘膜104而设有栅电极105。在基极区域102的表面层选择性地设有与沟槽103相接的η+型的源极区域106。源电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体元件,其特征在于,具有:第一导电型的第一半导体区域;设置在所述第一半导体区域的表面,且具有比该第一半导体区域高的杂质浓度的第二导电型的第二半导体区域;贯通所述第二半导体区域并到达所述第一半导体区域的沟槽;隔着绝缘膜设置在所述沟槽的内部的第一电极;以与所述沟槽相接触的方式设置在所述第二半导体区域的表面层的比所述第一电极的上端深的第一凹部;埋入所述第一凹部中的第二电极。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:百田圣自藤井岳志上岛聪浅井诚
申请(专利权)人:富士电机系统株式会社株式会社电装
类型:发明
国别省市:JP

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