【技术实现步骤摘要】
功耗预测方法、装置、设备及存储介质
[0001]本申请涉及半导体
，尤其涉及一种功耗预测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]目前，动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)功耗数据都是基于Jedec规格书定义的不同应用模式下的电流(IDD)值确定，例如IDD0在Jedec的定义为频繁开关一个存储单元(bank)的电流值，然而在实际应用中并不存在该种应用模式，且设备处理器向存储器发送指令序列是随机而无法预测的。因此，如何实现对设备内存功耗的预测，使其预测结果真实可靠是目前亟待解决的一个问题。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供一种功耗预测方法、装置、设备及存储介质，提升了预测结果的准确性和可靠性。
[0004]本申请实施例的第一方面提供一种功耗预测方法，包括：
[0005]获取设备存储器在目标场景下的指令数据，所述指令数据用于指示所述存储器在预设时段内的状态变化；
[0006]根据所述指令数据确定在所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗；
[0007]根据所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗，确定在所述预设时段内所述存储器的平均功耗；
[0008]将所述平均功耗作为所述存储器的预测功耗。
[0009]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述指令数据包括所述预设时段内设备处理器向所述存储器发送的指令序列，以及所述指令序列中的每条指令对应的所述存储器状态的持续时长；>[0010]所述获取设备存储器在目标场景下的指令数据，包括：
[0011]从协议分析仪获取所述设备存储器在所述目标场景下的指令序列。
[0012]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述根据所述指令数据确定所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗，包括：
[0013]获取所述指令数据中第一指令对应的第一状态以及所述第一状态的持续时长；所述第一指令为所述指令序列中的任意一条指令，所述第一状态包括所述存储器中至少一个存储单元的状态；
[0014]获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值；
[0015]根据所述第一预测电流值、所述第一状态的持续时长以及预设电压值，确定所述第一状态对应的第一预测功耗。
[0016]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值，包括：
[0017]获取所述第一状态对应的第一预设电流公式；
[0018]通过所述第一预设电流公式，获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值。
[0019]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述存储器中任意一个存储单元的状态包括以下任意一种：
[0020]关闭状态，打开状态，刷新状态。
[0021]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述方法还包括：
[0022]获取所述存储器在所述第一状态的第一实测电流值；
[0023]通过比较所述第一实测电流值和所述第一预测电流值，验证所述第一状态对应的第一预设电流公式是否合理。
[0024]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述通过比较所述第一实测电流值和所述第一预测电流值，验证所述第一状态对应的第一预设电流公式是否合理，包括：
[0025]若所述第一实测电流值和所述第一预测电流值的差值的绝对值小于阈值，确定所述第一预设电流公式合理；或者
[0026]若所述第一实测电流值和所述第一预测电流值的差值的绝对值大于或等于所述阈值，确定所述第一预设电流公式不合理。
[0027]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述获取所述存储器在所述第一状态的第一实测电流值，包括：
[0028]通过检测设备采集所述第一状态对应时段的设备电源上的电流值；
[0029]将所述第一状态对应时段的设备电源上的电流值作为所述第一实测电流值。
[0030]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述根据所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗，确定在所述预设时段内所述存储器的平均功耗，包括：
[0031]根据所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗，确定所述预设时段内所述存储器的总功耗；
[0032]根据所述总功耗以及所述预设时段的总时长，确定在所述预设时段内所述存储器的平均功耗。
[0033]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述方法还包括：获取所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗占所述预设时段内所述存储器的总功耗的比值；
[0034]根据所述每个状态对应的功耗占所述总功耗的比值，确定所述存储器的状态功耗分布图；
[0035]展示所述状态功耗分布图，所述状态功耗分布图用于指导测试人员对设备进行功耗改善。
[0036]本申请第一方面的一个可选实施例中，所述目标场景包括以下任意一项：
[0037]待机，视频播放，音频播放，文本显示，游戏执行。
[0038]本申请实施例的第二方面提供一种功耗预测装置，包括：
[0039]获取模块，用于获取设备存储器在目标场景下的指令数据，所述指令数据用于指示所述存储器在预设时段内的状态变化；
[0040]处理模块，用于根据所述指令数据确定在所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗；
[0041]根据所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗，确定在所述预设时段内所述存储器的平均功耗；
[0042]将所述平均功耗作为所述存储器的预测功耗。
[0043]本申请第二方面的一个可选实施例中，所述指令数据包括所述预设时段内设备处理器向所述存储器发送的指令序列，以及所述指令序列中的每条指令对应的所述存储器状态的持续时长；
[0044]所述获取模块，用于从协议分析仪获取所述设备存储器在所述目标场景下的指令序列。
[0045]本申请第二方面的一个可选实施例中，所述获取模块，用于获取所述指令数据中第一指令对应的第一状态以及所述第一状态的持续时长；所述第一指令为所述指令序列中的任意一条指令，所述第一状态包括所述存储器中至少一个存储单元的状态；
[0046]所述获取模块，用于获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值；
[0047]所述处理模块，用于根据所述第一预测电流值、所述第一状态的持续时长以及预设电压值，确定所述第一状态对应的第一预测功耗。
[0048]本申请第二方面的一个可选实施例中，所述获取模块，用于：
[0049]获取所述第一状态对应的第一预设电流公式；
[0050]通过所述第一预设电流公式，获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值。
[0051]本申请第二方面的一个可选实施例中，所述存储器中任意一个存储单元的状态包括以下任意一种：
[0052]关闭状态，打开状态，刷新状态。
[0053]本申请第二方面的一个可选实施例中，所述获取模块，用于获取所述存储器在所述本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种功耗预测方法，其特征在于，包括：获取设备存储器在目标场景下的指令数据，所述指令数据用于指示所述存储器在预设时段内的状态变化；根据所述指令数据确定在所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗；根据所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗，确定在所述预设时段内所述存储器的平均功耗；将所述平均功耗作为所述存储器的预测功耗。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指令数据包括所述预设时段内设备处理器向所述存储器发送的指令序列，以及所述指令序列中的每条指令对应的所述存储器状态的持续时长；所述获取设备存储器在目标场景下的指令数据，包括：从协议分析仪获取所述设备存储器在所述目标场景下的指令序列。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述指令数据确定所述预设时段内所述存储器的每个状态对应的功耗，包括：获取所述指令数据中第一指令对应的第一状态以及所述第一状态的持续时长；所述第一指令为所述指令序列中的任意一条指令，所述第一状态包括所述存储器中至少一个存储单元的状态；获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值；根据所述第一预测电流值、所述第一状态的持续时长以及预设电压值，确定所述第一状态对应的第一预测功耗。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值，包括：获取所述第一状态对应的第一预设电流公式；通过所述第一预设电流公式，获取所述存储器在所述第一状态的第一预测电流值。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述存储器中任意一个存储单元的状态包括以下任意一种：关闭状态，打开状态，刷新状态。6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述存储器在所述第一状态的第一实测电流值；通过比较所述第一实测电流值和所述第一预测电流值，验证所述第一状态对应的第一预设电流公式是否合理。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述通过比较所述第一实测电流值和所述第一预测电流值，验证所述第一状态对应的第一预设电流公式是否合理，包括：若所述第一实测电流值和所述第一预测电流值的差值的绝对值小于阈值，确定所述第一预设电流公式合理；或者若所述第一实测电流值和所述第一预测电流值的差值的绝对...
【专利技术属性】
技术研发人员：王鹏，卢欢，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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