快恢复二极管芯片制造技术

技术编号:3239743 阅读:205 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种快恢复二极管芯片,包括金属阴极和金属阳极,杂质类型不同的第一掺杂层和第二掺杂层,以及氧化层和钝化层,所述第二掺杂层设置在第一掺杂层内;氧化层连接在第一掺杂层和第二掺杂层的上部,钝化层连接在氧化层的上部,氧化层和钝化层上开有窗口,金属阳极设置在窗口内,金属阳极的底面与第二掺杂层连接,金属阳极上部的场板与钝化层的上表面相连。本实用新型专利技术将钝化层设置在氧化层的上部,氧化层和钝化层连续完成生长,可利用钝化层的屏蔽作用,将原来的四次光刻减少到2次或1次,工艺周期缩短1/4,大大降低了制作成本。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种快恢复二极管芯片,属于半导体器件

技术介绍
目前,带有钝化层的快恢复二极管芯片,由金属阴极和金属阳极,第 一掺杂层、第二掺杂层、氧化层和钝化层构成,但钝化层是连接在氧化层 和金属层的上部。快恢复二极管与其它器件配套,能广泛用于工业、医学 等领域。这类快恢复二极管芯片由于具有钝化层,因此在制作过程中,需 要经过氧化、光刻有源区、离子注入、推结、光刻电极孔、金属化、光刻 金属、淀积钝化层、光刻钝化层、硅片减薄、背面金属化工序,需要四次 光刻,操作复杂,制作工序多,工艺周期长,制造成本高,市场竞争力差。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种低成本的快恢复二极管芯片。 本技术为达到上述目的的技术方案是 一种快恢复二极管芯片, 包括金属阴极和金属阳极,杂质类型不同的第一掺杂层和第二掺杂层,以 及氧化层和钝化层,其特征在于,所述第二掺杂层设置在第一掺杂层内; 氧化层连接在第一掺杂层和第二掺杂层的上部,钝化层连接在氧化层的上 部,氧化层和钝化层上开有窗口,金属阳极设置在窗口内,金属阳极的底 面与第二掺杂层连接,金属阳极上部的场板与钝化层的上表面相连。 本技术采用上述技术方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快恢复二极管芯片,包括金属阴极(1)和金属阳极(7),杂质类型不同的第一掺杂层(3)和第二掺杂层(4),以及氧化层(5)和钝化层(6),其特征在于,所述第二掺杂层(4)设置在第一掺杂层(3)内;氧化层(5)连接在第一掺杂层(3)和第二掺杂层(4)的上部,钝化层(6)连接在氧化层(5)的上部,氧化层(5)和钝化层(6)上开有窗口,金属阳极(7)设置在窗口内,金属阳极(7)的底面与第二掺杂层(4)连接,金属阳极(7)的上部场板(71)与钝化层(6)的上表面相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘利峰张景超李栋良赵善麒
申请(专利权)人:江苏宏微科技有限公司深圳市晶导电子有限公司
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

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