本发明专利技术涉及一种集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺及其封装结构，包括以下工艺步骤：取金属基板材（１），在基板的两面各自贴上干膜层（２、３），在基板（１）的两面对应去除部分干膜，在基板上准备形成基岛及引脚，在基板上准备形成基岛及引脚区域的两面都镀上活化物质和金属层，去除基板正面余下的干膜，半蚀刻，在基板（１）上形成凹陷的半蚀刻区（１．３），同进相对形成基岛１．１及引脚１．２，去除基板背面余下的干膜，在基岛正面金属层植入芯片（９），打金属线（１０），包封塑封体（１１），正面打印（１２），半蚀刻区（１．３）余下部分金属１．４再次进行蚀刻，塑封体正面贴上胶膜（１３），切割。本发明专利技术焊性能力强、品质优良、成本较低、生产顺畅、适用性较强、多芯片排列灵活、不会发生塑封料渗透的种种困扰。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺及其封装结构。属集成电路或分立元件封装
技术介绍
传统的集成电路或分立元件超薄无脚封装工艺及其封装结构，其封装型式为四面无脚表面贴片式封装，列阵式集合体经切割成为单一的单元。其基板型式为引线框式。其主要存在以下不足1、引线框采用穿透式蚀刻的方式制作引线框。2、化学胶膜因采用穿透式蚀刻方式，在包封过程中会造成溢料。3、污染因为采用化学胶带，而在各种高温工艺中胶膜的粘剂很容易因为高温而气化出来，间接污染或覆盖在芯片的压区及打线区的表面，常常造成打线能力的不稳定。4、金属丝球焊因采用穿透式蚀刻方式，背面必须贴上防止溢料用的胶膜。而在焊线过程设定的压力参数、振荡参数等会因为胶膜是软性的，会有部分被吸收，所以实际的压力值和振荡值与设定值相比会有出入，从而造成焊线点松脱，严重影响了焊线的可靠性及生产稳定性。5、可靠性 A.虽然贴了化学胶膜，但在高温包封过程中，还是会有不同程度的溢料；B.因为担心溢料后产生大量的返工作业，所以不敢用较大的包封压力，结果造成了塑封料疏松、吸水率增加、密度降低，严重增加了生产成本及良率成本；C.四面表面贴片式封装型式的底部输出脚的部分是与塑封表面呈同高甚至是凹陷的，在表面贴装过程中会因为脚掌共面性不良而产生接触不良的问题；同时，由于外脚凹陷于塑封体的平面，表面贴装作业中会有空气残留于凹陷中，经高温空气膨胀后，会造成接点的崩裂；D.因输出脚与塑封体是在同一平面甚至是凹陷的，在表面贴装过程中很容易造成凸脚表面锡膏相互连结而短路；E.打线的内脚原则上采用镀银层，然而银层与塑封料的接合能力并不好，很容易造成塑封料与银层间的脱层的问题；F.电性输出的外脚原则上采用锡铅、纯锡等材料，而因材料本身容易氧化，所以会影响到可焊性的能力，而且保存的时间也较短。G.由于电性输出脚的外脚原则上采用锡铅、纯锡等材料，而锡的熔点相对较低，这样在切割工序时很容易因为切割刀的磨擦生热而造成锡的氧化甚至是熔化，进而大大影响了输出脚的可焊性和电性传输稳定性。6、散热性、导电率四面表面贴片式封装的引线框均采用全蚀刻的铜合金，其导电率/散热能力仅有65％左右，如果采用纯铜的材料，其导电率/散热能力至少可达99％以上；但因纯铜的强度太软，所以在生产过程中容易产生因引线框太软而易变形的困扰。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述不足，提供一种生产顺畅，良率提高，成本低廉，品质优良，可靠性高，导电率/散热性高的集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺及其封装结构。本专利技术的目的是这样实现的一种集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，包括以下工艺步骤——取一片金属基板材，——在金属基板的两面各自贴上干膜层以保护后续的蚀刻工艺作业，——在金属基板的两面对应去除部分干膜，在金属基板上准备形成基岛及引脚，用意是露出基板上后续需要镀活化物质的区域，——在金属基板上准备形成的基岛及引脚区域的两面都镀上活化物质；——在金属基板上准备形成的基岛及引脚区域两面的活化物质上都镀上金属层，以利于后续焊线时金属线与芯片区和打线内脚区之间以更加紧密、牢固的接合，同时增加与塑封料饼间的结合度，——去除金属基板正面余下的干膜，以露出后续所需半蚀刻工艺的区域，——对上道工序中去除干膜的区域进行半蚀刻，在金属基板上形成凹陷的半蚀刻区，同时相对形成基岛及引脚，——去除基板背面余下的干膜， ——在金属基板的基岛正面金属层上进行芯片的植入，制成集成电路或分立元件的列陈式集合体半成品，——对已完成芯片植入作业的半成品进行打金属线作业，——将已打线完成的半成品正面进行包封塑封体作业，并依据塑封料的特性进行塑料包封后固化作业，以保护金属线、芯片及内脚的安全，——将已完成塑料包封及后固化作业的半成品，进行正面打印作业，用以识别芯片的功能及特性，——在金属基板的背面对不被金属层覆盖的区域即半蚀刻区余下部分的金属再次进行蚀刻，从而使基岛和引脚的背面凸出于塑封体，——将塑封体正面贴上胶膜，准备进行后续的塑封体切割作业，——对已贴上胶膜的半成品进行切割作业，使原本以列阵式集合体方式连在一起的芯片—颗颗独立开来，——将完成切割的产品利用取放转换设备将单颗集成电路或分立元件的塑封体逐一的吸出胶膜。本专利技术集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，所述的芯片的植入可以在基岛正面金属层上直接进行芯片的植入，也可以先在基岛正面金属层上涂布上银胶，再在刚刚完成银胶涂布的银胶上进行芯片的植入，完成后再进行银胶后固化的作业。本专利技术集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，所述的基岛及引脚上面金属层为金或银、铜、镍、镍钯层。本专利技术集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，所述的基岛及引脚下面金属层为金或银、铜、锡、镍、镍钯层。本专利技术集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，所述的金属线为金线或银线、铜线、铝线。本专利技术集成电路或分立元件平面凸点式封装结构，包括芯片承载底座、打线内脚承载底座、芯片、金属线以及塑封体，所述的芯片承载底座包括中间基岛以及基岛正面活化物质、活化物质正面金属层，所述的打线内脚承载底座包括中间引脚以及引脚正面活化物质、活化物质正面金属层，芯片承载底座的正面金属层上涂布银胶，银胶上植入芯片，芯片正面和打线内脚承载底座正面金属层分别与金属线两端连接制成封装结构半成品，封装结构半成品正面用塑封体包封，并使基岛和引脚的背面凸出于塑封体表面，凸出塑封体的基岛表面镀有活化物质，活化物质表面镀有金属层，凸出塑封体的引脚表面镀有活化物质，活化物质表面镀有金属层。本专利技术集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺及其封装结构，其封装型式采用平面式凸点封装，列阵式集合体经切割成为单—的单元。其基板型式为在基板上半蚀刻以相对露出所需要的基岛和引脚。与四面无脚表面贴片式封装相比，本专利技术具有如下优点1、引线框采用半蚀刻方式制作引线框。2、化学胶膜因采用半蚀刻方式，所以在包封过程中完全不会有溢料的产生，而且完全无需贴上防止溢料用的胶膜。3、污染无需使用任何化学胶膜却仍然可以防止包封过程中溢料的产生，所以完全不会有污染的问题，生产顺畅，良率提高，成本低廉。4、金属丝焊线平面式凸点封装结构中输出的焊点是凸出于塑封体表面的，此外两次蚀刻保证了焊点间的绝对共面性。如此单点独立的焊接方式可以维持目前一般芯片的焊性能力，也不用担心表面贴装是否会不稳定，品质比传统四面表面贴片式封装型式更加稳定。5、可靠性A.完全不会产生溢胶；B.因采用半蚀刻的方式，所以在包封过程中采用再大的压力也不会有溢料产生，各项可靠性得以保障，而且生产更顺利，成本也会随之下降；C 平面凸点式封装型式其底部输出脚的部分是凸出塑封体的；同时，因为半蚀刻的方式，所以可以保证脚掌绝对共面；D.因塑封体底部的输出脚是凸出塑封体0.05±0.025mm的尺寸，其锡膏残余量会附着在凸脚的四周，不容易产生锡膏短路，进而增加了凸脚焊点的焊接能力；E.打线区的内脚可不采用镀银层而改用镀金层、镀镍层或镀镍钯层，因为塑封料与金或镍、镍钯的结合能力比银好很多，进而不容易造成分层的困扰；F.电性输出的外脚采用镀金层或镍层、镍钯层时，因为此材料属于惰性材料，不会因为环境中气体或温度而氧化，所以保存的时间非常长；G.电性输出的外脚采用镀金层本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，其特征在于它包括以下工艺步骤：－取一片金属基板材（１），－在金属基板（１）的两面各自贴上干膜层（２、３），－在金属基板（１）的两面对应去除部分干膜，在金属基板（１）上准备形成 基岛及引脚，－在金属基板（１）上准备形成的基岛及引脚区域的两面都镀上活动物质（４．１、４．２、５．１、５．２），－在金属基板（１）上准备形成的基岛及引脚区域两面的活动物质上都镀上金属层（６．１、６．２、７．１、７．２）， －去除金属基板（１）正面余下的干膜，－对上道工序中去除干膜的区域进行半蚀刻，在金属基板（１）上形成凹陷的半蚀刻区（１．３），同时相对形成基岛（１．１）及引脚（１．２），－去除基板背面余下的干膜，－在金属基板（１） 的基岛（１．１）正面金属层（６．１）上进行芯片（９）的植入，制成集成电路或分立元件的列陈式集合体半成品，－将已完成芯片植入作业的半成品进行打金属线（１０）作业，－将已打线完成的半成品正面进行包封塑封体（１１）作业，并进行塑料 包封后固化作业，－将已完成塑料包封及后固化作业的半成品，进行正面打印（１２）作业，－在金属基板（１）的背面对不被金属层覆盖的区域即半蚀刻区（１．３）余下部分的金属（１．４）再次进行蚀刻，从而使基岛（１．１）及引脚（１．２）的 背面凸出于塑封体（１１），－将塑封体（１１）正面贴上胶膜（１３），－对已贴上胶膜的半成品进行切割作业，使原本以列阵式集合体方式连在一起的芯片一颗颗独立开来，－将完成切割的产品利用取放转换设备将单颗集成电路或分立元件的 塑封体吸出胶膜。...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，其特征在于它包括以下工艺步骤——取一片金属基板材(1)，——在金属基板(1)的两面各自贴上干膜层(2、3)，——在金属基板(1)的两面对应去除部分干膜，在金属基板(1)上准备形成基岛及引脚，——在金属基板(1)上准备形成的基岛及引脚区域的两面都镀上活动物质(4.1、4.2、5.1、5.2)，——在金属基板(1)上准备形成的基岛及引脚区域两面的活动物质上都镀上金属层(6.1、6.2、7.1、7.2)，——去除金属基板(1)正面余下的干膜，——对上道工序中去除干膜的区域进行半蚀刻，在金属基板(1)上形成凹陷的半蚀刻区(1.3)，同时相对形成基岛(1.1)及引脚(1.2)，——去除基板背面余下的干膜，——在金属基板(1)的基岛(1.1)正面金属层(6.1)上进行芯片(9)的植入，制成集成电路或分立元件的列陈式集合体半成品，——将已完成芯片植入作业的半成品进行打金属线(10)作业，——将已打线完成的半成品正面进行包封塑封体(11)作业，并进行塑料包封后固化作业，——将已完成塑料包封及后固化作业的半成品，进行正面打印(12)作业，——在金属基板(1)的背面对不被金属层覆盖的区域即半蚀刻区(1.3)余下部分的金属(1.4)再次进行蚀刻，从而使基岛(1.1)及引脚(1.2)的背面凸出于塑封体(11)，——将塑封体(11)正面贴上胶膜(13)，——对已贴上胶膜的半成品进行切割作业，使原本以列阵式集合体方式连在一起的芯片一颗颗独立开来，——将完成切割的产品利用取放转换设备将单颗集成电路或分立元件的塑封体吸出胶膜。2.根据权利要求1所述的一种集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，其特征在于在基岛(1.1)正面金属层(6.1)上直接进行芯片(9)的植入。3.根据权利要求1所述的一种集成电路或分立元件平面凸点式封装工艺，其特征在于先在基岛(1.1)正面金属层(6.1)上涂布上银胶(8)，再在刚刚完成银胶涂布的银胶(8)上进行芯片(9)的植入，完...
【专利技术属性】
技术研发人员：王新潮，于燮康，梁志忠，谢洁人，陶玉娟，周正伟，
申请(专利权)人：江苏长电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]
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