【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种多簇存储器件，更具体地说，涉及一种改进的用于多簇存储器件的多簇联锁方案和相应的测试方式。众所周知，多簇存储器件(multibank memory device)中的整个存储阵列被分成功能一致的存储器簇(memory banks)。每个存储器簇典型地有相同数目的字线和位线，这些簇可以彼此独立地启动。结果，用于启动一个簇的行地址不必和用于启动其它簇的其它行地址相同。众所周知，通过行地址来启动字线会导致与启动字线相连的所有存储单元被闩锁在用于每个相应位线的读出放大器中。在传统的标准操作模式中，每个读和写命令提供簇选择信息和一列地址，以选择一簇的启动字线的一具体位线。也就是，首先，簇选择信息被用来选择一个簇，只有在这个簇中列地址用于选择从相应读出放大器中读出的数据(或写入数据)。然而，由于这里仅有一个公享数据通道，只有一个簇可以存储相关系统写入数据线上的数据或驱动系统读出数据线上的数据。结果，传统的多簇存储器件的测试一次只能执行一个簇。虽然这种方法可以进行存储器簇的测试，但是逐个对簇顺序执行这种方法是过于费时的，因此这是不允许的。根据本专利技术的一...
【技术保护点】
一种测试带有多个存储器簇的多簇存储器件的方法，包括以下步骤： 启动所述多个存储器簇中的两个或更多个，以参与测试； 选择至少一个与每个被启动存储器簇之中的存储单元相应的公用存储地址； 同时向选定的每个被启动存储器簇的存储单元中写入测试数据； 同时读出以前向所选定的每个被启动存储器簇的存储单元中写入的测试数据；和 比较从每个被启动存储器簇中读出的测试数据和从其它被启动存储器簇读出的测试数据，如果确定为匹配，那么，表明通过状态，否则，表明失败状态。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 1997-9-29 9395461．一种测试带有多个存储器簇的多簇存储器件的方法，包括以下步骤启动所述多个存储器簇中的两个或更多个，以参与测试；选择至少一个与每个被启动存储器簇之中的存储单元相应的公用存储地址；同时向选定的每个被启动存储器簇的存储单元中写入测试数据；同时读出以前向所选定的每个被启动存储器簇的存储单元中写入的测试数据；和比较从每个被启动存储器簇中读出的测试数据和从其它被启动存储器簇读出的测试数据，如果确定为匹配，那么，表明通过状态，否则，表明失败状态。2．根据权利要求1所述的方法，其中，一测试图分别被写入每个被启动存储器簇中多个共同的选定存储单元中，每个存储器簇中的每个共同选定的存储单元被同时写入。3．根据权利要求2所述的方法，其中，以前写入多个共同选定的存储单元中的测试图的至少一部分被同时读取，并对其进行比较，以确定通过和失败状态。4．根据权利要求2所述的方法，其中，每个被启动存储器簇中的多个选定的存储单元构造于多个字线之中，其中，存储在非对应字线中的测试图的多个部分被同时从被启动存储器簇中读出，并对其进行比较，以确定一通过/失败状态。5．一种有选择地访问多簇存储器件的存储器簇的方法，其中，多簇存储器件包括一公用内部数据通道，它工作连接到多个存储器件之上，上述方法包括以下步骤提供一簇启动信号，簇启动信号显示多个存储器簇的哪些存储器簇被启动；通过公用内部数据通道允许从被启动的存储器簇中顺序内部读取数据或向被启动的存储器簇中顺序内部写入数据；和通过公用内部数据通道拒绝从未启动的存储器簇中顺序读取数据或向未启动的存储器簇中顺序内部写入数据。6．一种用于测试带有多个存储器簇的多簇存储器件的装置，该装置包括用于启动多个存储器簇中的两个或更多个以参与测试的机构；用于选择与每个被启动存储器簇中的存储单元相应的至少一个公用存储地址的机构；用于同时向每个被启动存储器簇的选定存储单元中写入测试数据的机构；用于同时读取以前写入每个被启动存储器簇的选定存储单元中的测试数据的机构；和用于比较从每个被启动存储器簇中读出的测试数据和从每个其它被启动存储器簇中读出的测试数据的机构，如果确定为匹配，那么便显示通过状态，否则显示失败状态。7．根据权利要求6所述的装置，其中，一测试图分别写入每个被启动存储器簇中多个共同选定的存储...
【专利技术属性】
技术研发人员：冈纳H克劳斯，奥利弗基尔，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]
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