检测存储器装置的方法制造方法及图纸

一种用来检测存储器装置的方法，首先，将存储器装置切割成复数个区块，对切割后的其中一个存储器区块先使用一图案，实施完整的检测；接着，将该区块整个填写成‘１’，而其背景部分填写成‘０’；然后，将该区块行走整个存储器装置，以便快速地检测整个存储器装置；不仅大大缩短传统的存储器装置的检测技术的测试时间，也可完整地检验出地址解码器的正常与否的缺失；同时，本发明专利技术也找出使存储器装置检测时间达到最小的区块数。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种检测方法。特别地，是有关于一种。半导体存储器的发展突飞猛进，其密度，即单片晶片的位数及亦为硅的单位面积的位数，急速增加。从早期70年代的1024位数至今日的64百万位数，以及128百万位数亦充斥于各角落。检测存储器装置的技术渐渐受到重视，因为对于检测时下百万及数百万位的存储器晶片，检测时间确实相当重要。虽然存储器检测技术涵盖的主题很广，同时也有不少的检测方法被提出。然而，过去20年来，在检测时间方面的改进，并没有显著的突破。表1所列为用来检测存储器装置的传统检测的方法。假设上述每一检测方法，其读写周期为10ns(10-9秒)，且被检测为一N位的存储器。表1也摘述了各检测方法所需的检测时间的阶数(order)。表1 由上表中可知，零-壹与西洋棋盘的检测方法称之为有N型态图案。行走壹/零检测方法为有N2型态图案。而对角线、进行行及进行列为有 型态图案。图2表示一大小为1024位的存储器装置，具有十个地址位。通常，一个存储器装置表为大小等于N位或是地址位的数目。例如，一大小为1024位存储器装置可表为十个地址位，或是N=210，或是X=25且Y=25。亦即N=X本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测存储器装置的方法，该存储器装置被安排成行与列的形式，其特征在于，该方法包含下列步骤：ａ）分割该存储器装置成复数个存储器容量较其为小的区块；ｂ）从该复数个区块中选取一第一区块；ｃ）对该第一区块使用一种检测图案来实施检测； ｄ）该第一区块每一位填写成相同的值，而其它每一区块的每一位填写成该值的补数；及ｅ）将该区块行走该整个存储器装置的其它每一区块，以检测该存储器装置。

【技术特征摘要】
US 1997-10-8 08/9472641．一种检测存储器装置的方法，该存储器装置被安排成行与列的形式，其特征在于，该方法包含下列步骤a)分割该存储器装置成复数个存储器容量较其为小的区块；b)从该复数个区块中选取一第一区块；c)对该第一区块使用一种检测图案来实施检测；d)该第一区块每一位填写成相同的值，而其它每一区块的每一位填写成该值的补数；及e)将该区块行走该整个存储器装置的其它每一区块，以检测该存储器装置。2．如权利要求1所述的检测存储器装置的方法，其特征在于，其中步...

【专利技术属性】
技术研发人员：张昌武，
申请(专利权)人：鑫测股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]