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一种测试多簇存储器件的方法包括：启动多个存储器簇中的两个或更多个，以参与测试；选择至少一个与每个被启动簇之中的存储单元相应的公用存储地址；同时向选定的每个被启动簇的存储单元中写入测试数据；同时读出以前向所选定的每个被启动簇的存储单元中写入的...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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