【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体存储器,并且特别是涉及非易失性的、电可擦除可编程只读存储单元的编程。
技术介绍
非易失性的电可擦除可编程只读存储单元(EEPROM)的信息位的编程通常花费相对多的时间。为了编程单位存储单元或多位存储单元,电荷被注入并且被存储在存储单元的电荷俘获区中。通过将电荷注入和存储在电荷俘获区中(或者通过将电荷不注入和不存储在电荷俘获区中),编程二进制信息,所述二进制信息稍后可以从该存储单元中被读出。编程过程通常包括至少两个步骤,即在第一步骤中施加编程脉冲,继之以第二步骤中的编程验证步骤。在编程脉冲步骤期间,例如通过使用热电子效应或者通过使用Fowler-Nordheim隧道效应将电荷注入并且存储在所述存储单元中。编程验证步骤允许测试编程步骤是否成功。在文献US 6,396,742 B1中,说明了随后有验证的存储单元的编程。在那里,建议编程单元的状态并且然后验证所述单元的阈值电压是否在期望的电压范围内。如果期望的阈值电压没有达到,则预定的多个附加编程脉冲被施加到所述单元。由于包括随后的验证步骤的若干编程脉冲的施加,编程所述单元花费相对多的时间。除此之外,必须在一方面是所达到的存储单元的阈值电压的精度与另一方面是所需的编程和验证步骤的数量和分解(resolution)之间作出权衡。因此,本专利技术的对象是加速非易失性存储单元的编程时间。本专利技术的另一对象是在编程期间允许调节存储单元的阈值电压。本专利技术所解决的附加对象是控制多个存储单元的阈值电压的分配。
技术实现思路
根据本专利技术的实施例,规定一种编程能够存储至少一个信息位的、电可擦除可编程只读 ...
【技术保护点】
编程能够存储至少一个信息位的电可擦除可编程只读存储单元的方法,所述存储单元具有电荷俘获区,所述方法包括:通过将电荷注入并且存储在电荷俘获区中来编程所述信息位,因此在第一时间周期期间将固定的电压施加到所述存储单元,该第一时间周期后面是 第二时间周期,在所述第二时间周期期间将恒定电流施加到所述存储单元。
【技术特征摘要】
US 2005-5-31 11/1412551.编程能够存储至少一个信息位的电可擦除可编程只读存储单元的方法,所述存储单元具有电荷俘获区,所述方法包括通过将电荷注入并且存储在电荷俘获区中来编程所述信息位,因此在第一时间周期期间将固定的电压施加到所述存储单元,该第一时间周期后面是第二时间周期,在所述第二时间周期期间将恒定电流施加到所述存储单元。2.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述第二时间周期期间所施加的恒定电流在大于、等于或小于在所述第一时间周期结束时所达到的电流电平的电流电平处。3.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述第二时间周期期间所施加的恒定电流对应于在所述第一时间周期结束时所达到的电流电平。4.根据权利要求1至3之一所述的方法,其中,在所述第二时间周期期间,具有恒定电流的编程信号的电压变化被测量。5.根据权利要求4所述的方法,其中,当在所述第二时间周期期间所观察到的电压变化量超过预定的阈值时,结束通过将电荷注入并且存储在所述电荷俘获区中来编程所述信息位的步骤。6.根据权利要求4所述的方法,其中,当所述编程信号在所述第二时间周期期间的绝对电压电平超过预定的阈值时,结束通过将电荷注入并且存储在所述电荷俘获区中来编程所述信息位的步骤。7.根据权利要求5或6之一所述的方法,其中,根据所述存储单元的所期望的阈值电压来预定所述预定的阈值。8.根据权利要求4至7之一所述的方法,其中,所述电可擦除可编程只读存储单元能够存储两个二进制信息位,并且其中具有恒定电流的编程信号的电压变化的测量通过读取所述存储单元的正被编程的位来执行。9.具有能存储至少一个信息位的电可擦除可编程只读存储单元的设备,所述存储单元具有电荷俘获区,所述设备包括编程信号发生器,所述编程信号发生器与所述存储单元耦合并且被设计用于在第一时间周期中输出具有固定电压的编程信号,以及在所述第一时间周期之后的第二时间周期中输出具有恒定电流的编程信号,用于通过将电荷注入并且存储在所述电荷俘获区中来编程所述信息位。10.根据权利要求9所述的设备,其中,所述编程信号发生器被这样设计,以致在所述第二时间周期期间所施加的恒定电流对应于在所述第一时间周期结束时所达到的电流电平。11.根据权利要求9和10之一所述的设备,其中,装置被设置用于在所述第二时间周期期间测量具有恒定电流的编程信号的电压变化。12.根据权利要求11所述的设备,其中,所述设备包括用于将具有恒定电流的编程信号在所述第二时间周期期间的所述电压变化的量与预定的阈值电平进行比较的装置和用于当所述编程信号在所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员:M格茨,R斯罗维克,N本阿里,G库拉托洛,
申请(专利权)人:英飞凌科技弗拉斯有限责任两合公司,
类型:发明
国别省市:DE[德国]
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