【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术属于一种电子组件测试装置。目前，测试各种集成电路都采用大型综合测试仪，由于各种组件结构之不同，采用各种不同的插座接口，根据各组件各自参数加入各种不同的外加条件进行综合测试，在测试仪的显示屏上显示输出或是由打印机将测试参数打印输出，优点是测试组件参数准确，速度快，适合大批量测试，其不足是设备庞大复杂，造价高，要求技术高，需要专门人员操作，占用空间大，给小批量单一组件的测试带来不便。为解决少量组件测试的需要，本技术的目的提供一种集成电路组件检测仪，利用此小型检测仪，可以专门对ULN2003系列组件的测试。本技术之结构设计是这样实现的该检测仪由+5V直流稳压电源、LED显示器、IC插座、拔码开关及分压电阻组成(如附图说明图1所示)，测试仪为并行四路结构，在测试台上装有组件插座(III-1～III-4)，插座之输出端与LED显示器(II-1～II-4)对应联接，插座(III-1～III-4)之输入端与拔码开关(IV-1～IV-4)之输出站对应联接(如图2所示)，每一路拔码开关输入端与分压电阻联接，分压电阻中间之各分压端与拔码开关输出端各自并行联接，同时联接到插座之输入端，分压电阻的电源端统一为直流稳压电源+5V。本技术之优点测试仪电路结构简单，安装使用方便，特别适合对ULN2003系列组件之测试。本技术之结构由以下实施例及附图给出。图1为集成电路组件检测仪电路联接图；图2为集成电路组件检测仪电路联接框图；图3为集成电路组件检测仪电路组件原理图；图4为集成电路组件检测仪ULN2003组件电原理图。测试仪结构如图2所示，II-1～II-4为LED显示器，I...
【技术保护点】
一种集成电路组件检测仪，其特征是：该检测仪由＋５Ｖ直流稳压电源、ＬＥＤ显示器、ＩＣ插座、拔码开关及分压电阻组成，测试仪为并行四路结构，在测试台上装有组件插座（Ⅲ－１～Ⅲ－４），插座之输出端与ＬＥＤ显示器（Ⅱ－１～Ⅱ－４）对应联接，插座（Ⅲ－１～Ⅲ－４）之输入端与拔码开关（Ⅳ－１～Ⅳ－４）之输出站对应联接，每一路拔码开关输入端与分压电阻联接，分压电阻中间之各分压端与拔码开关输出端各自并行联接，同时联接到插座之输入端，分压电阻的电源端统一为直流稳压电源＋５Ｖ。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨维玉，
申请(专利权)人：中国科学院沈阳计算技术研究所，
类型：实用新型
国别省市：89[中国|沈阳]
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