具有分区扫描链的集成电路的扫描测试中的增强控制制造技术

本发明专利技术涉及在具有分区的扫描链的集成电路(IC)中实施的测试控制器，其提供了执行扫描测试中的增强的控制。根据一个方面，测试控制器能够选择性地控制用于独立的IC的不同扫描链的扫描测试的扫入、扫出和捕获相位。测试控制器与外部测试器接合所需要的管脚的数目小于测试控制器能够支持的分区的数目。根据另一个方面，IC包括相应于每个分区的寄存器，从而支持跳变故障(或者LOS)测试。根据另一个方面，具有分区的扫描链的IC包括串并转换器和并串转换器，由此最小化支持扫描测试所需要的外部管脚。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开的实施例通常涉及集成电路的测试，并且更具体地涉及在具有分区的扫描链的集成电路的扫描测试中提供增强控制。
技术介绍
基于扫描的测试(扫描测试)通常被执行以测试集成电路(IC)。扫描测试通常涉及测试方法，其中IC中的存储元件(例如，触发器(flip-flop))被连接为扫描链，测试向量经由在IC上提供的输入测试管脚移位到扫描链中，所述IC被置为评估模式(捕获相位)，使得所述输入被评估，并且捕获周期中所获得的相应的响应向量经由输出测试管脚移出。响应向量中的比特值与期望的输出相比较，从而确定IC中的任何故障状态。IC通常设计有分区的扫描链，意味着每个分区的扫描链包含相应的存储元件组， 其可操作为扫描链从而接收相应的测试向量。如相关领域中公知的，为了一些原因使用分区的扫描链，例如为了期望的隔离的分区组的可测试性、不同频率中的不同分区的可操作性、电源管理等等。通常期望在这些环境中提供更多控制，以便可以采用适于相应的环境的测试。
技术实现思路
具有分区的扫描链的集成电路(IC)中实现的测试控制器提供执行扫描测试中的增强控制。根据一方面，测试控制器可以选择性地将用于IC的不同的扫描链的扫描持续本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·D·黑尔斯，S·K·纳基蒂，R·A·帕雷克吉，S·拉维，R·K·蒂瓦里，
申请(专利权)人：德克萨斯仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：