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本发明涉及在具有分区的扫描链的集成电路(IC)中实施的测试控制器，其提供了执行扫描测试中的增强的控制。根据一个方面，测试控制器能够选择性地控制用于独立的IC的不同扫描链的扫描测试的扫入、扫出和捕获相位。测试控制器与外部测试器接合所需要的管脚...
该专利属于德克萨斯仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过德克萨斯仪器股份有限公司授权不得商用。

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