用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路技术方案

技术编号:6828745 阅读:309 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路,它包括精密DA转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块;所述的精密DA转换模块和输入信号处理模块连接触发模块;所述的触发模块连接高速计数模块;本实用新型专利技术与现有技术相比,具有以下明显效果:1、设计合理;2、集成度高;3、参数测量范围宽,由于专用电路中采用了大规模集成电路和高速比较触发器,使参数测试的精度和可测范围大大提高。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于模拟集成电路测试系统的宽范围时间参数测试专用电路,属于集成电路

技术介绍
一般模拟集成电路测试机只能测试频率、周期等常用的时间参数,且能测试的参数范围小,一般在IuS到IOOmS的范围,对被测的信号电压范围也只能在IOV以内。该专用电路不仅允许被测信号电压范围扩大到了士50V,相关时间参数也扩大到了几十纳秒到1 秒,能完成极大多数IC的时间参数测试。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述存在的不足,提供一种设计合理、能提供可测量信号的频率、周期、高电平宽度、低电平宽度、上升沿时间、下降沿时间等功能的模拟集成电路测试系统的宽范围时间参数测量专用电路。本技术的目的是通过如下技术方案来完成的,一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路,它包括精密DA转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块;所述的精密DA转换模块和输入信号处理模块分别连接触发模块;所述的触发模块连接高速计数模块;所述的精密DA转换模块为触发模块提供精确的触发电平,所述的触发模块的输出为高速计数模块提供高速计数控制信号,上位机软件根据高速计数值和相应的计数时钟频率计算出相应的时间本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路,它包括精密DA转换模块(1)、输入信号处理模块(2)、触发模块(3)、高速计数模块(4);所述的精密DA转换模块(1)和输入信号处理模块(2)分别连接触发模块(3);所述的触发模块(3)连接高速计数模块(4)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:钟锋浩
申请(专利权)人:杭州长川科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:86

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