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一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路，它包括精密DA转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块；所述的精密DA转换模块和输入信号处理模块连接触发模块；所述的触发模块连接高速计数模块；本实用新型与现有技术相比，具有以下明...
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