一种用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法，包括步骤1，电路测试单元测量并采集集成电路参数，集成电路参数为时序数据；步骤2，模数转换单元将采集的集成电路参数进行模数转换；步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成电路参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；步骤4，通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元对集成电路参数进行运算加工；步骤5，显示单元接收运算单元运算加工后的集成电路参数并显示。用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法能使集成电路时序数据实时显示，并且该系统及方法能实时判定被检测电集成电路是否合格，检测方法方便快捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路测试领域，尤其是指一种用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法。
技术介绍
集成电路测试是集成电路生产中的重要一环，测试准确性和测试效率直接影响产品的质量和成本；量产测试前进行产品测试参数调试耗时耗力，调试过程中示波器是必备工具，需要根据示波器的读数调整测试参数相关值。工程师对集成电路测试机的测试电路和测试程序进行调试时，希望具有比示波器更简单的工具，能够观察参数实时结果，提高调试效率。中华人民共和国国家知识产权局于2012年05月23日公开了名称为“一种用波形显示测量结果的数字万用表”的专利文献（公告号：CN102466745A），其中公开的波形显示测量结果的数字万用表，具有数值测量和波形显示的功能，集合了一部分万用表和示波器的功能，但不能直接用于集成电路测试时的实时电路参数数值采集、计算和显示。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中集成电路不能实时测试，调试效率较低的缺点，提供一种用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法，通过该系统及方法集成电路的参数可以直接采集并实时显示。本专利技术的目的是通过下述技术方案予以实现：一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，包括以下步骤：步骤1，电路测试单元测量并采集集成电路参数，集成电路参数为时序数据；步骤2，模数转换单元将采集的集成电路参数进行模数转换；步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成电路参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；步骤4，通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元对集成电路参数进行运算加工；步骤5，显示单元接收运算单元运算加工后的集成电路参数并显示。模数转换单元采用两组16位模数转换芯片进行模数转换，故采集电路参数时序数值时不影响速度和准确性，通信单元负责获取时序数据，运算单元对时序数据进行波形绘制，然后通过显示单元显示时序数据的数值和波形。作为一种优选方案，步骤1具体为电路测试单元以设定值为步距采集至少50个点，则集成电路参数为0到步距与至少50个点的乘积的时间内的电路参数时序数据。至少50个点的数据保证了数据的准确性。作为一种优选方案，设定值的范围为5us至20us，采集的数量为至少500个点。此设计保证了数据的准确性的同时又避免了数据量过大影响效率。作为一种优选方案，步骤4具体为通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元计算出电路参数时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间，并进行图形运算绘制波形图。作为一种优选方案，用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法还包括步骤6，显示单元还显示集成电路参数的理论波形图，并将理论波形图的每个点的数值的±5-10%作为误差，再将实际的波形图和理论波形图做比较，若实际的波形图在误差范围内，则表示集成电路合格，若实际的波形图超出误差范围，则表示集成电路不合格。此方法可以用来快速直观判定集成电路是否合格，具体的误差范围可以由相关操作人员调节。作为一种优选方案，用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法还包括步骤7，显示单元显示一条与X轴平行的且以理论波形图最大值上浮5%为数值的直线，若实际的波形图最大值未超过直线，则表示集成电路合格，若实际的波形图最大值超过直线，则表示集成电路不合格。最大值上浮的数值应小于理论波形图的误差，因为最大值的误差应较小，防止集成电路的元器件的击穿问题。作为一种优选方案，用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法还包括步骤8，显示单元显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值延迟若干时间为数值的第一直线，显示单元还显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值提早若干时间为数值的第二直线，若实际的波形图稳定时间值在第一直线和第二直线之间，则表示集成电路合格，若实际的波形图稳定时间值不在第一直线和第二直线之间，则表示集成电路不合格。此设计用于检测集成电路的稳定时间是否合格，进一步提高了集成电路是否合格的准确判断率。一种用于集成电路测试的系统，包括电路参数采集模块和电路参数显示模块，电路参数采集模块包括电路测试单元、模数转换单元和主控芯片单元，电路参数显示模块包括通信单元、运算单元和显示单元，电路测试单元和模数转换单元相连接，模数转换单元与主控芯片单元相连接，主控芯片单元与通信单元通信连接，通信单元与运算单元相连接，运算单元与显示单元相连接。本专利技术的有益效果是，用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法能使集成电路时序数据实时显示，显示的内容包括波形以及时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间等，并且该系统及方法能实时判定被检测电集成电路是否合格，检测方法方便快捷。附图说明图1是本专利技术的一种电路原理连接图；其中：1、电路参数采集模块，2、电路参数显示模块，11、电路测试单元，12、模数转换单元，13、主控芯片单元，21、通信单元，22、运算单元，23、显示单元。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术进一步描述。实施例：一种用于集成电路测试的系统，其电路原理连接图如图1所示，包括电路参数采集模块1和电路参数显示模块2，电路参数采集模块包括电路测试单元11、模数转换单元12和主控芯片单元13，电路参数显示模块包括通信单元21、运算单元22和显示单元23，电路测试单元和模数转换单元相连接，模数转换单元与主控芯片单元相连接，主控芯片单元与通信单元通信连接，通信单元与运算单元相连接，运算单元与显示单元相连接。主控芯片单元使用FPGA来控制采集方式、采集时间间隔，模数转换单元使用两组16位模数转换芯片进行模数转换。电路参数显示模块使用PC机，保证效率前提下具有稳定和经济的效果，通信单元使用PC机具有的PCI插槽和电路采集模块进行通信，运算单元使用PC的CPU进行数值和图形处理，显示单元使用PC显示屏显示数值和波形。一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，包括以下步骤：步骤1，电路测试单元以10us为步距采集500个点，则集成电路参数为0到5ms内的电路参数时序数据；步骤2，模数转换单元将采集的集成电路参数进行模数转换；步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成电路参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；步骤4，通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元计算出电路参数时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间，并进行图形运算绘制波形图；步骤5，显示单元接收运算单元运算加工后的集成电路参数并显示；步骤6，显示单元还显示集成电路参数的理论波形图，并将理论波形图的每个点的数值的±10%作为误差，显示单元显示理论波形图误差范围，再将实际的波形图和理论波形图做比较，若实际的波形图在误差范围内，则表示集成电路合格，若实际的波形图超出误差范围，则表示集成电路不合格；步骤7，显示单元显示一条与X轴平行的且以理论波形图最大值上浮5%为数值的直线，若实际的波形图最大值未超过直线，则表示集本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，其特征是，包括以下步骤：步骤1，电路测试单元测量并采集集成电路参数，集成电路参数为时序数据；步骤2，模数转换单元将采集的集成电路参数进行模数转换；步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成电路参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；步骤4，通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元对集成电路参数进行运算加工；步骤5，显示单元接收运算单元运算加工后的集成电路参数并显示。

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，其特征是，包括以下步骤：
步骤1，电路测试单元测量并采集集成电路参数，集成电路参数为时序数据；
步骤2，模数转换单元将采集的集成电路参数进行模数转换；
步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成电路参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；
步骤4，通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元对集成电路参数进行运算加工；
步骤5，显示单元接收运算单元运算加工后的集成电路参数并显示。
2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，其特征是，所述的步骤1具体为电路测试单元以设定值为步距采集至少50个点，则集成电路参数为0到步距与至少50个点的乘积的时间内的电路参数时序数据。
3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，其特征是，所述的设定值的范围为5us至20us，采集的数量为至少500个点。
4.根据权利要求2或3所述的一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，其特征是，所述的步骤4具体为通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元计算出电路参数时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间，并进行图形运算绘制波形图。
5.根据权利要求4所述的一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，其特征是，还包括步骤6，显示单元还显示集成电路参数的理论波形图，并将理论波形图的...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋浩华，吴友凤，钟锋浩，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33