芯片分选设备及其应用方法技术

本申请涉及芯片分选技术领域，提供了一种芯片分选设备及其应用方法。该芯片分选设备包括供收料单元、中转料梭和至少一个料仓分类单元；在料仓分类单元为一个时，供收料单元和料仓分类单元沿第一方向邻接或间隔设置，中转料梭设置在供收料单元与料仓分类单元之间；在料仓分类单元为两个以上时，两个以上料仓分类单元和供收料单元沿第一方向邻接或间隔设置，且供收料单元位于全部料仓分类单元沿第一方向的一侧，供收料单元与靠近的一料仓分类单元之间、以及任意相邻的两个料仓分类单元之间均设置有中转料梭。本申请提供的芯片分选设备可以根据实际分选情况匹配相适应的分选模式，兼容性较高，并且减少了分选过程中的人工参与，提高分选效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片分选，特别是涉及一种芯片分选设备及其应用方法。

技术介绍

1、在芯片制造时通常需要进行多项测试，且在测试时多个芯片集成在料盘中同步被移动至测试工位，测试后该料盘上每个芯片的测试结果并不完全相同，且排布杂乱。此时，就需要根据实际需求对所有芯片的测试结果进行分档，例如以相差定额差值由小到大分成多个不同的分选档位，即芯片分选。

2、相关技术中，常用的测试分选机的分选档位数量相对固定，如若遇到数量较多的分选档位要求时，需要先一次分选出部分分选档位对应的芯片，而不满足一次分选要求的芯片可以集中在一起，而后再对这些芯片进行再次分选，当分选档位数量更多时，需要多次分选才可以满足分选要求。因此，这样的操作导致整体分选效率较低；且，在这个过程中，每次分选之间往往依赖人工参与进行转移收纳，进一步降低分选效率，而且人工操作容易产生失误，难以避免出现撒料、混料等问题。此外，如若遇到数量较少的分选档位要求时，测试分选机上的部分分选工位可能并不会投入使用，造成资源浪费。

技术实现思路

1、基于此，有必要提供一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片分选设备，其特征在于，包括供收料单元(10)、中转料梭(30)和至少一个料仓分类单元(20)；

2.根据权利要求1所述的芯片分选设备，其特征在于，所述芯片分选设备还包括移送料梭(40)，所述移送料梭(40)可拆卸连接于所述第一安装基板(13)，且所述移送料梭(40)的另一部分用于连接测试芯片的上游设备(50)，以将所述上游设备(50)的芯片移送至所述第一搬运模组(12)的搬运范围内，所述第一搬运模组(12)能够在所述移送料梭(40)与各个所述料盘输送轨道(11)之间、所述移送料梭(40)与所述中转料梭(30)之间、所述移送料梭(40)与所述缓存料盘(16)之间流转...

【技术特征摘要】

1.一种芯片分选设备，其特征在于，包括供收料单元(10)、中转料梭(30)和至少一个料仓分类单元(20)；

2.根据权利要求1所述的芯片分选设备，其特征在于，所述芯片分选设备还包括移送料梭(40)，所述移送料梭(40)可拆卸连接于所述第一安装基板(13)，且所述移送料梭(40)的另一部分用于连接测试芯片的上游设备(50)，以将所述上游设备(50)的芯片移送至所述第一搬运模组(12)的搬运范围内，所述第一搬运模组(12)能够在所述移送料梭(40)与各个所述料盘输送轨道(11)之间、所述移送料梭(40)与所述中转料梭(30)之间、所述移送料梭(40)与所述缓存料盘(16)之间流转。

3.根据权利要求2所述的芯片分选设备，其特征在于，所述芯片分选设备具有单机模式，在所述单机模式时，所述料仓分类单元(20)为一个，多个所述料盘输送轨道(11)中至少一个为供料位，所述供料位用于人工上料，所述第一搬运模组(12)能够在所述供料位与所述人工收料模组(15)之间、所述供料位与所述中转料梭(30)之间流转；和/或，

4.根据权利要求2所述的芯片分选设备，其特征在于，所述移送料梭(40)包括中部立板(41)和输送模组(42)，所述中部立板(41)沿自身厚度方向的两侧均设置有所述输送模组(42)，两组所述输送模组(42)均具有用于承载料盘的承载部(421)，且各个所述承载部(421)错开设置；

5.根据权利要求4所述的芯片分选设备，其特征在于，每组所述输送模组(...

【专利技术属性】
技术研发人员：张新，陈奇，黄林林，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：